[发明专利]发光二极管的结构有效

专利信息
申请号: 200410073927.4 申请日: 2004-09-06
公开(公告)号: CN1747185A 公开(公告)日: 2006-03-15
发明(设计)人: 涂如钦;武良文;游正璋;温子稷;简奉任 申请(专利权)人: 璨圆光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 郝庆芬
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及具有短周期超晶格数字接触层的氮化镓是发光二极管的结构,包含基板,双重缓冲层,n型氮化镓层,短周期超晶格数字接触层,活性发光层,p型被覆层,及接触层。在制造高掺杂浓度(n>1×1019cm-3)且低电阻的厚n型氮化镓接触层时,不会于厚n型氮化镓层内,发生容易龟裂或点缺陷(pin hole)现象,维持重掺杂氮化镓接触层品质。其次,通过短周期重掺杂硅的氮化铝镓铟(n++-Al1-x-yGaxInyN)形成超晶格结构,具有短周期超晶格数字接触层,低电阻值的n型接触层于氮化铟镓/氮化镓多重量子井结构发光二极管。然后,便于制作n型欧姆接触电极层,使得整体电特性变好,降低整体元件的操作电压。
搜索关键词: 发光二极管 结构
【主权项】:
1.一种氮化镓系发光二极管结构,其特征在于,包含:一基板,其材质是氧化铝单晶(Sapphire);一双重缓冲层(double buffer layer),位于该基板上,其包含:一第一缓冲层(first buffer layer),其材质是氮化铝镓铟(Al1-x-yGaxInyN),其中0≤X<1,0≤Y<1,位于该基板上;一第二缓冲层(second buffer layer),其材质是氮化硅(SiN),位于该第一缓冲层上;一n型氮化镓(GaN)层,是位于该双重缓冲层上;一短周期超晶格数字接触层,是位于该n型氮化镓(GaN)层上,其包含:复数个基础层,是位于该n型氮化镓(GaN)层上,该基础层包含:一第一基层,其材质是硅(Si)重掺杂的n型氮化铝镓铟(n++-Al1-x-yGaxInyN),其中0≤X<1,0≤Y<1;及一第二基层,位于该第一基层上,其材质是氮化硅(SiN);一活性发光层,其材质是氮化铟镓(InGaN),是位于该短周期超晶格数字接触层上;一p型被覆层,其材质是镁掺杂(Mg-doped)氮化铝镓铟(Al1-x-yGaxInyN),其中0≤X<1,0≤Y<1,且位于该活性发光层上;及一接触层,其材质是镁掺杂(Mg-doped)p型氮化铝镓铟(Al1-x-yGaxInyN),其中0≤X<1,0≤Y<1,是位于该p型被覆层上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于璨圆光电股份有限公司,未经璨圆光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410073927.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top