[发明专利]测量待测物中成分浓度的方法和设备有效
| 申请号： | 200410063118.5 | 申请日： | 2004-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1550213A | 公开（公告）日： | 2004-12-01 |
| 发明（设计）人： | 黄寅德;尹吉源;韩相畯;全桂珍 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B5/145;A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种测量待测物中某种成分浓度的方法，包括：在特定波长下关于参照物设定正级光束和负级光束之间的强度关系式；施加具有由待测物吸收的第一波长带的光，并探测从待测物输出的正级光束的强度和从参照物输出的负级光束的强度，正级光束和负级光束具有第二波长带；通过将从参照物输出的负级光束的强度带入强度关系式，计算出输入到待测物的正级光束的强度；以及利用从待测物输出的正级光束的强度和输入到待测物的正级光束的强度计算吸光率，并利用吸光率计算该成分的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 待测物中 成分 浓度 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测量待测物中某种成分浓度的方法，包括：在特定波长下关于参照物来设定正级光束和负级光束之间的强度关系式；施加具有由所述成分吸收的第一波长带的光，并测量从待测物输出的正级光束的强度以及从参照物输出的负级光束的强度，该正级光束和负级光束具有第二波长带；通过将从参照物输出的负级光束的强度带入强度关系式，计算出输入待测物的正级光束的强度；以及利用从待测物输出的正级光束的强度和输入待测物的正级光束的强度计算吸光率，利用该吸光率测量所述成分的浓度。
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