[发明专利]一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法有效
| 申请号： | 200410034865.6 | 申请日： | 2004-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN1564320A | 公开（公告）日： | 2005-01-12 |
| 发明（设计）人： | 李华伟;李晓维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | H01L21/70 | 分类号： | H01L21/70;H01L21/66;H01L21/768;H01L21/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100080*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法，包括线间串扰源的收集，故障的选择和故障集的精简，以及对精简后的故障集进行时延测试生成和测试集的精简。对线间串扰减速效应所引起的性能方面的下降需要进行有针对的时延测试。步骤如下：步骤1：获取电路时延分配和临界通路；步骤2：跳变信号预处理；步骤3：临界通路的串扰源收集和故障集精简；步骤4：增强子通路敏化的时延测试生成和测试集精简。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 线间串扰 减速 效应 测试 生成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种线间串扰减速效应的时延测试生成方法，针对线间串扰减速效应带来的性能下降进行时延测试生成，有效精简故障集，以提高测试生成效率和降低+测试成本，其特征在于，具体步骤如下：步骤1：获取电路时延分配和临界通路；步骤2：跳变信号预处理；步骤3：临界通路的串扰源收集和故障集精简；步骤4：增强子通路敏化的时延测试生成和测试集精简。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院计算技术研究所，未经中国科学院计算技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410034865.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种稠油污水处理回用热采锅炉给水工艺
- 下一篇：双包层光纤激光耦合输出头
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
