[发明专利]旋涂材料层的平坦化方法及光致抗蚀剂层的制造方法无效

专利信息
申请号: 200410033401.3 申请日: 2004-04-07
公开(公告)号: CN1680876A 公开(公告)日: 2005-10-12
发明(设计)人: 卢俊男;蔡念谕;杨淑卿 申请(专利权)人: 茂德科技股份有限公司
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种旋涂材料层的平坦化方法,此方法提供基底,此基底中已形成有多个开口。然后,于基底上形成旋涂材料层,此旋涂材料层填满开口。接着,进行等离子体蚀刻工艺,移除部分旋涂材料层直到暴露出基底表面。其中在此等离子体蚀刻工艺中,冷却基底,使基底表面与开口内的旋涂材料层维持一蚀刻选择比,以得到一平坦化的旋涂材料层。
搜索关键词: 材料 平坦 方法 光致抗蚀剂层 制造
【主权项】:
1、一种旋涂材料层的平坦化方法,至少包括:提供一基底,该基底中已形成有至少一个开口;于该基底上形成一旋涂材料层,该旋涂材料层填满该开口;以及进行一等离子体蚀刻工艺,移除部分该旋涂材料层直到暴露出该基底表面,其中在该等离子体蚀刻工艺中,冷却该基底,使该基底表面与该开口内的该旋涂材料层维持一蚀刻选择比,以得到一平坦化的旋涂材料层。
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