[发明专利]用于检测可在坐标轴上移动的滑架的空间位置的装置有效

专利信息
申请号: 200410031713.0 申请日: 2004-03-24
公开(公告)号: CN1532515A 公开(公告)日: 2004-09-29
发明(设计)人: 格奥尔格·米斯 申请(专利权)人: 克林格恩贝格有限公司
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谷慧敏;钟强
地址: 联邦德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 公开了一种用于机床或者测量仪的装置(10),用于参照构成为矩形板的与滑架(14)的导轨(12)平行延伸的标准件(24),检测可在坐标轴上沿导轨(12)移动的滑架(14)的空间位置。标准件(24)的两个相对且相互平行的面(28,30)各自具有二维直线栅格。位置测量系统(20)用于连续确定可与滑架(14)固定连接的支架(22)的空间位置。位置测量系统具有三个光学增量式读数头(34,36,38)和一个距离传感器(40)。支架(22)这样设置在可移动滑架(14)上,使支架在整个移动行程上同时测量过程时不会与标准件(24)产生接触。通过将三个读数头(34,36,38)和距离传感器(40)设置在支架(22)上精确确定的位置上,可以确定支架以及与其连接的滑架(14)的位置和空间位置。
搜索关键词: 用于 检测 坐标轴 移动 空间 位置 装置
【主权项】:
1.用于机床或者测量仪的装置,用于参照最好具有多边形横截面的与滑架(14)的导轨平行延伸的棱形标准件(24),检测可在坐标轴上沿导轨移动的滑架(14)的空间位置,其中,标准件(24)至少在第一和第二面上具有直线栅格,其中至少一个直线栅格为二维的;其中,具有位置测量系统(20),用于确定可与滑架(14)固定连接的或者与滑架为整体的支架(22;23)的空间位置;其中,标准件(24)的第一和第二面(28,30;28,32)具有二维直线栅格(29,31);其中,位置测量系统(20)为检测标准件(24)的直线栅格(29,31),具有第一读数头(34)和相距的第二读数头(36),它们设置在支架(22;23)上并与二维直线栅格(29;31)的第一直线栅格(29)对应,设置在支架(22;23)上的第三读数头(38),它与二维直线栅格(29,31)的第二直线栅格(31)对应,以及距离传感器(40),用于检测支架(22;23)和具有二维直线栅格(29,31)的面(28,30;28,32)之一(28)或者一个与其平行的面之间的距离,以及其中,支架(22;23)这样设置在滑架(14)上,使支架(22;23)在测量过程中不会与标准件(24)产生接触。
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