[发明专利]熔体扩散法制备近化学比铌酸锂晶片的工艺无效

专利信息
申请号: 200410019723.2 申请日: 2004-06-21
公开(公告)号: CN1594169A 公开(公告)日: 2005-03-16
发明(设计)人: 孙骞;崔国新;李玉栋;陆文强;许京军;孔勇发;黄子恒 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: C03C21/00 分类号: C03C21/00
代理公司: 天津市学苑有限责任专利代理事务所 代理人: 解松凡
地址: 3000*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种对同成分铌酸锂晶片进行锂离子的扩散处理,特别是涉及提高铌酸锂中锂离子的浓度的工艺,以使晶片成为高锂浓度的近化学比铌酸锂晶片。本发明的技术方案是将同成分铌酸锂晶片置入坩埚中,用适量锂离子晶体粉末及钾离子晶体粉末将晶片覆盖,使离子晶体粉末熔化,熔液中,钾离子与锂离子数量比在0.2-0.5。并在熔融温度(1000-1200度)恒温1-200小时。随后,降温至室温,通过液体清洗和抛光,清理掉附着在晶片上的离子晶体残留物,最终获得高锂浓度的近化学比铌酸锂晶片,本工艺相对VTE来说,更为简单方便,更为经济。
搜索关键词: 扩散 法制 化学 铌酸锂 晶片 工艺
【主权项】:
1.一种熔体扩散法制备近化学比铌酸锂晶片的工艺,其特征在于它包括下述步骤:1)将同成分铌酸锂晶片置入坩埚中;2)用锂离子晶体和钾离子晶体的粉末混合物将晶片覆盖;3)加热坩埚至1000-1200度的温度范围内,这时离子晶体粉末混合物熔化,锂离子从熔融的离子晶体液态混合物中向铌酸锂晶体中扩散,通过1-200小时的处理,提高铌酸锂中锂的浓度;4)降温至室温;5)通过液体清洗或抛光,清理附着在晶片上的离子晶体残留物,最终获得近化学比铌酸锂晶片,晶片中锂与铌的原子个数比在49.5∶50.5-50.0∶50.0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南开大学,未经南开大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410019723.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top