[发明专利]基于全局脊线的指纹识别方法无效

专利信息
申请号: 200410017825.0 申请日: 2004-04-18
公开(公告)号: CN1564186A 公开(公告)日: 2005-01-12
发明(设计)人: 刘中秋 申请(专利权)人: 杭州中正生物认证技术有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/68
代理公司: 杭州九洲专利事务所有限公司 代理人: 陈继亮
地址: 310012浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种基于全局脊线的指纹识别方法,在存储指纹模板和待识别指纹模板中进行基准点对搜索,基准点对是参与比对的存储指纹和待识别指纹进行姿势校准的定位参考点;在提取指纹细节点之后,引入细化了的全局指纹脊线形成指纹模板;然后考察细节点的拓扑结构或周围脊线分布的相似性,确定基准点对;通过基准点对对齐两枚指纹,计算两枚指纹脊线的匹配度,从而判定两枚指纹是否匹配。本发明的有益效果是:由于运用了全局脊线信息,使得采用本发明所述的方法不仅显著提高了搜索效率和抗噪声能力,而且还克服了基于细节点的算法难以正确识别相同细节点过少的两枚指纹的问题。
搜索关键词: 基于 全局 指纹识别 方法
【主权项】:
1、一种基于全局脊线的指纹识别方法,其特征在于:主要包含下列步骤:1.在存储指纹模板和待识别指纹模板中进行基准点对搜索,基准点对是参与比对的存储指纹和待识别指纹进行姿势校准的定位参考点;2.进行全局脊线匹配,即对存储指纹模板和待识别指纹模板的脊线点进行全局比对,脊线由脊线点构成,在此基础上判断两枚指纹是否匹配,具体实现过程分四步如下:2.1指纹模板姿势校准:以进入全局匹配的基准点对为对齐点,计算平移量和旋转量,然后将待识别模板T2对齐到存储模板T1中去;2.2统计重叠区域内T2脊线点总数S1:将待识别模板T2对齐到存储模板T1之后,T2和T1形成一块重叠区域,统计T2在重叠区域的脊线点个数,记为S1;2.3脊线点比对:对重叠区域所有T2上的脊线点进行考察,统计匹配点的个数,记为S2;2.4计算存储指纹模板和待识别指纹模板的匹配分值,与判断阈值T进行比较,输出判断结果。
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