[发明专利]检测电子元件阵列的方法和装置有效
| 申请号： | 200410001160.4 | 申请日： | 2004-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN1521498A | 公开（公告）日： | 2004-08-18 |
| 发明（设计）人： | 大伟·安德史·杰森;梁永康;陈旭琼 | 申请（专利权）人： | 先进自动器材有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京申翔知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周春发 |
| 地址： | 香港新界葵涌工业*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测电子元件阵列的装置和方法，该装置包含有一扫描装置，其用于捕获每一单个元件的至少一个表面的图象，藉以检测所述的表面。该扫描装置可以是行扫描装置。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电子元件 阵列 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种检测电子元件阵列的装置，其包含有：扫描装置，其用于捕获每一单个元件的至少一个表面的图象，藉以检测所述的表面。
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