[发明专利]包括转变检测电路的半导体器件及其启动方法无效

专利信息
申请号: 200310123120.2 申请日: 2003-12-17
公开(公告)号: CN1534781A 公开(公告)日: 2004-10-06
发明(设计)人: 及川恒平;白武慎一郎;竹内義昭;高岛大三朗;托马斯·勒尔 申请(专利权)人: 株式会社东芝;英芬能技术公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;G11C11/41;G11C11/413;G11C11/34
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体器件(10)包含内部电源(30),至少一个半导体电路模块(20),延迟电路(40)和检测电路(50,60)。内部电源(30)当被初始化时输出初始化完成信号。半导体电路模块(20)根据内部电源(30)产生的电压进行操作。延迟电路(40)延迟初始化完成信号。检测电路(50,60)响应延迟电路(40)延迟的初始化完成信号和外部输入的第一输入信号命令半导体电路模块(20)开始操作。
搜索关键词: 包括 转变 检测 电路 半导体器件 及其 启动 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于包括:内部电源,其在电源被初始化时输出初始化完成信号;至少一个半导体电路模块,其根据内部电源产生的电压进行操作;延迟电路,其延迟初始化完成信号;和检测电路,其响应延迟电路延迟的初始化完成信号和外部输入的第一输入信号,命令半导体电路模块开始操作。
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