[发明专利]磁光记录介质和磁光记录装置无效
申请号: | 03826136.7 | 申请日: | 2003-03-12 |
公开(公告)号: | CN1759443A | 公开(公告)日: | 2006-04-12 |
发明(设计)人: | 细川哲夫 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G11B11/105 | 分类号: | G11B11/105 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种磁光记录介质,在形成在基板上的光学相位坑上形成磁光记录薄膜,可以使相位坑信号和形成在其上的记录膜信号两者再生;当把形成在基板上的相位坑的光学深度设为X(λ),把照射了偏振光方向的光束时的前述相位坑的调制度设为Y(%)时,其中,该偏振光方向为与前述磁光记录介质的轨道垂直的方向,满足以下条件:344X-8.12≥Y且Y≥286X-10.7,0.080≤X≤0.124且16≤Y≤30。这样,可以获得把MO信号和相位坑信号的抖动抑制为所期望的小于等于10%、且不发生裂纹、而重复记录特性也充分的磁光记录介质。 | ||
搜索关键词: | 记录 介质 装置 | ||
【主权项】:
1、一种磁光记录介质,在形成在基板上的光学相位坑上形成磁光记录薄膜,可以使光学相位坑信号和形成在其上的记录膜信号两者再生;其特征在于,被构成为:当把形成在基板上的相位坑的光学深度设为X(λ),把照射了偏振光方向的光束时的前述相位坑的调制度设为Y(%)时,其中,该偏振光方向为与前述磁光记录介质的轨道垂直的方向,满足以下条件:344X-8.12≥Y且Y≥286X-10.70.080≤X≤0.124且16≤Y≤30。
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