[发明专利]微芯片、制造微芯片的方法、以及检测成分的方法无效
| 申请号： | 03818586.5 | 申请日： | 2003-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN1675536A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | 饭田一浩;德岛正敏;下田毅 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/05;G01N37/00;G01N13/14 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏;陆弋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种微芯片包括具有流过样本的通道的包层，和形成在所述包层中并且具有折射率高于所述包层的光波导。光波导形成为光学地作用在通道上。这样，即使在具有精细结构的微芯片中，也可以高精度地分析在通道中流动的样本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 制造 方法 以及 检测 成分 | ||
【主权项】：
1.一种微芯片，包括：包层，其具有样本从其中通过的通道；和光波导，其形成在所述包层中，并且具有比所述包层高的折射率，其中所述光波导形成为光学地作用于所述通道。
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