[发明专利]半导体激光器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 03164975.0 申请日: 2003-08-29
公开(公告)号: CN1495978A 公开(公告)日: 2004-05-12
发明(设计)人: 渡边昌规 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体激光器件及其制造方法,该半导体激光器件具有电流注入区(A)和比电流注入区(A)更靠近各激光束发射端面的电流非注入区(B)。半导体激光器件具有形成在每个电流非注入区(B)中p型(AlpGa1-p)qIn1-qP(0≤p≤1,0≤q≤1)中间带隙层(106)表面上的氧化层(106A)、形成在电流注入区(A)中中间带隙层(106)上的p型GaAs顶部覆盖层(107)、以及形成在氧化层(106A)和p型GaAs顶部覆盖层(107)上的p型GaAs接触层(125)。
搜索关键词: 半导体激光器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体激光器件,其中n型(AleGa1-e)fIn1-fP(0≤e≤1,0≤f≤1)覆盖层、包括AlGaInP型材料的多个叠置层的有源层、p型(AlxGa1-x)yIn1-yP(0≤x≤1,0≤y≤1)覆盖层、以及p型(AlpGa1-p)qIn1-qP(0≤p≤1,0≤q≤1)中间带隙层依此序叠置在衬底上,半导体激光器件具有电流注入区和电流非注入区,其中半导体激光器件还包括:形成在电流非注入区中p型(AlpGa1-p)qIn1-qP中间带隙层表面上的氧化层;形成在电流注入区中p型(AlpGa1-p)qIn1-qP中间带隙层上的p型AluGa1-uAs(0≤u≤1)顶部覆盖层;以及形成在氧化层和p型AluGa1-uAs顶部覆盖层上的p型AlvGa1-vAs(0≤v≤1)接触层。
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