[发明专利]形成在硅在绝缘体上的衬底上的静态随机存取存储器有效
申请号: | 03154953.5 | 申请日: | 2003-08-25 |
公开(公告)号: | CN1485926A | 公开(公告)日: | 2004-03-31 |
发明(设计)人: | 吴昌奉;金永郁 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L27/11 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种SRAM,其能够减小电路占用的总面积,并且能够改善PMOS晶体管的迁移率和操作特性。该SRAM形成在具有第一、第二有源区的S0I衬底上。第一存取NMOS晶体管和由第一驱动NMOS晶体管及第一负载PMOS晶体管构成的第一反相器形成在SOI衬底的第一有源区上。第二存取NMOS晶体管和由第二驱动NMOS晶体管及第二负载PMOS晶体管构成的第二反相器形成在SOI衬底的第二有源区上。在每个有源区中,存取NMOS晶体管的漏(或源)、驱动NMOS晶体管的漏和负载PMOS晶体管的漏在一共用区域彼此连接。该SRAM形成在SOI衬底上,因而最终的芯片尺寸得以减小。 | ||
搜索关键词: | 形成 绝缘体 衬底 静态 随机存取存储器 | ||
【主权项】:
1.一种SRAM,包括:第一和第二存取NMOS晶体管;第一驱动NMOS晶体管和第一负载PMOS晶体管,该些晶体管构成第一反相器,其根据第二存取NMOS晶体管的操作被有选择地驱动;以及第二驱动NMOS晶体管和第二负载PMOS晶体管,该些晶体管构成第二反相器,其根据第一存取NMOS晶体管的操作被有选择地驱动;其中,晶体管形成在SOI衬底的有源区上,并且有源区的形成有负载PMOS晶体管的部分延伸使得与有源区的形成有驱动NMOS晶体管的部分成一预定的角度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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