[发明专利]硅基微机械微波/射频开关芯片的制备方法无效
申请号: | 03151007.8 | 申请日: | 2003-09-17 |
公开(公告)号: | CN1525527A | 公开(公告)日: | 2004-09-01 |
发明(设计)人: | 茅惠兵;赖宗声;朱自强;忻佩胜;胡梅丽 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01P1/10;H01P11/00;B81B1/00 |
代理公司: | 上海德昭专利事务所 | 代理人: | 程宗德;石昭 |
地址: | 200062*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种硅基微机械微波/射频开关的制备方法,包括硅片准备和第一次氧化;光刻并腐蚀二氧化硅层、制备初步的二氧化硅桥墩16;硅片第二次氧化;再次光刻并腐蚀二氧化硅层,形成二氧化硅桥墩16;制备铬-金双金属层18;光刻并腐蚀铬-金双金属层18,形成传输线10、1、8、7;制备聚酰亚胺牺牲层19;光刻并腐蚀聚酰亚胺牺牲层19;亚胺化;正胶光刻接触层20的图形;蒸发铬-金双金属层21;形成接触层2;制备氮化硅悬臂梁薄膜22;制备并腐蚀氮化硅的铝保护层23;形成悬臂梁3;制备上电极金属层24;形成上电极12、4;形成悬臂梁3的空间结构十八个工艺步骤。有工艺成熟,成本低等优点。硅基微机械微波/射频开关是现代无线通讯系统中的关键器件。 | ||
搜索关键词: | 微机 微波 射频 开关 芯片 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅基微机械微波/射频开关芯片的制备方法,其特征在于,操作步骤:第一步硅片准备和第一次氧化选用高阻硅做衬底,衬底的厚度和电阻率分别为350微米和3000欧姆/厘米,先采用标准工艺把硅衬底清洗并烘干,然后采用交替式热氧化的方法,即先在1180℃的氧化炉中通入干氧10分钟,再通入湿氧3小时,最后再次通入干氧10分钟,在硅片表面生成1.7微米左右的二氧化硅;第二步光刻并腐蚀二氧化硅层、制备初步的二氧化硅桥墩16用负胶光刻,在桥墩16的位置形成保护,用HF酸腐蚀二氧化硅层,制备初步的二氧化硅桥墩16;第三步硅片第二次氧化再次采用交替式热氧化的方法,对硅片进行第二次氧化;第四步再次光刻并腐蚀二氧化硅层,形成二氧化硅桥墩16将负胶按第二步采用的掩膜版光刻,用HF酸腐蚀而二氧化硅层,形成加高的二氧化硅桥墩16,桥墩16的高度为2.6~2.8微米,二氧化硅桥墩16的外框长度、宽度和线条宽度分别为820微米、500微米和40微米;第五步制备铬-金双金属层18用真空蒸发技术制备铬-金双金属层18,先在硅片上蒸发铬层,再在铬层上蒸发金层,铬层厚度为200,金层厚度为2000,采用负胶光刻出传输线10、1、8、7的图形;第六步光刻并腐蚀铬-金双金属层18,形成传输线10、1、8、7用KI溶液腐蚀铬-金双金属层18,制备传输线10、1、8、7,传输线10和7的长度和宽度分别为190微米和41微米,传输线1和8的总长度和宽度分别为170微米和30微米,传输线1与8之间的间隔为16微米;第七步制备聚酰亚胺牺牲层19在第六步制得的硅片上,涂一层聚酰亚胺牺牲层19,该层的厚度约3微米;第八步光刻并腐蚀聚酰亚胺牺牲层19光刻出用于支撑悬臂梁3的部分,用氢氧化钠溶液腐蚀,去除聚酰亚胺牺牲层19的其余部分;第九步亚胺化在氮气条件下,将聚酰亚胺牺牲层19加温至300℃,恒温1小时,自然冷却,使聚酰亚胺牺牲层19固化,利于后续工艺图形完整;第十步正胶光刻接触层20的图形用正胶光刻形成接触层20的图形;第十一步蒸发金-铬双金属层21在光刻好的图形上,用真空蒸发技术蒸发铬-金双金属层21,其中金层厚度为200纳米,铬层厚度为15纳米;第十二步形成接触层2用丙酮溶液去除第十步形成的光刻胶和光刻胶上的铬-金双金属层21,形成接触层2;第十三步制备悬臂梁氮化硅薄膜22采用用等离子增强化学气相淀积(PECVD)的方法淀积悬臂梁氮化硅薄膜22,厚度为2900~3100;第十四步制备并腐蚀氮化硅的铝保护层23蒸发铝保护层23,厚度约为5000,然后光刻需保护的悬臂梁图形3,其余部分的铝用磷酸腐蚀去除;第十五步形成悬臂梁3以六氟化硫为气源,用等离子体刻蚀氮化硅,形成悬臂梁3,然后去胶,腐蚀剩余的铝保护层23,形成的悬臂梁3的长度和宽度分别为370微米和80微米;第十六步制备上电极金属层24 用真空蒸发技术蒸铝膜,作上电极金属层24,铝膜的厚度为5000-8000,光刻上电极12、4的图形;第十七步形成上电极12,4用磷酸腐蚀铝膜,即上电极金属层24,形成上电极12、4;第十八步形成悬臂梁3的空间结构用氧等离子体刻蚀,去除聚酰亚胺牺牲层19,形成空气隙,时间为45分钟-1.5小时,最后得到完整的硅基微机械微波/射频开关芯片。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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