[发明专利]硅基微机械微波/射频开关芯片的制备方法无效

专利信息
申请号: 03151007.8 申请日: 2003-09-17
公开(公告)号: CN1525527A 公开(公告)日: 2004-09-01
发明(设计)人: 茅惠兵;赖宗声;朱自强;忻佩胜;胡梅丽 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01P1/10;H01P11/00;B81B1/00
代理公司: 上海德昭专利事务所 代理人: 程宗德;石昭
地址: 200062*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种硅基微机械微波/射频开关的制备方法,包括硅片准备和第一次氧化;光刻并腐蚀二氧化硅层、制备初步的二氧化硅桥墩16;硅片第二次氧化;再次光刻并腐蚀二氧化硅层,形成二氧化硅桥墩16;制备铬-金双金属层18;光刻并腐蚀铬-金双金属层18,形成传输线10、1、8、7;制备聚酰亚胺牺牲层19;光刻并腐蚀聚酰亚胺牺牲层19;亚胺化;正胶光刻接触层20的图形;蒸发铬-金双金属层21;形成接触层2;制备氮化硅悬臂梁薄膜22;制备并腐蚀氮化硅的铝保护层23;形成悬臂梁3;制备上电极金属层24;形成上电极12、4;形成悬臂梁3的空间结构十八个工艺步骤。有工艺成熟,成本低等优点。硅基微机械微波/射频开关是现代无线通讯系统中的关键器件。
搜索关键词: 微机 微波 射频 开关 芯片 制备 方法
【主权项】:
1.一种硅基微机械微波/射频开关芯片的制备方法,其特征在于,操作步骤:第一步硅片准备和第一次氧化选用高阻硅做衬底,衬底的厚度和电阻率分别为350微米和3000欧姆/厘米,先采用标准工艺把硅衬底清洗并烘干,然后采用交替式热氧化的方法,即先在1180℃的氧化炉中通入干氧10分钟,再通入湿氧3小时,最后再次通入干氧10分钟,在硅片表面生成1.7微米左右的二氧化硅;第二步光刻并腐蚀二氧化硅层、制备初步的二氧化硅桥墩16用负胶光刻,在桥墩16的位置形成保护,用HF酸腐蚀二氧化硅层,制备初步的二氧化硅桥墩16;第三步硅片第二次氧化再次采用交替式热氧化的方法,对硅片进行第二次氧化;第四步再次光刻并腐蚀二氧化硅层,形成二氧化硅桥墩16将负胶按第二步采用的掩膜版光刻,用HF酸腐蚀而二氧化硅层,形成加高的二氧化硅桥墩16,桥墩16的高度为2.6~2.8微米,二氧化硅桥墩16的外框长度、宽度和线条宽度分别为820微米、500微米和40微米;第五步制备铬-金双金属层18用真空蒸发技术制备铬-金双金属层18,先在硅片上蒸发铬层,再在铬层上蒸发金层,铬层厚度为200,金层厚度为2000,采用负胶光刻出传输线10、1、8、7的图形;第六步光刻并腐蚀铬-金双金属层18,形成传输线10、1、8、7用KI溶液腐蚀铬-金双金属层18,制备传输线10、1、8、7,传输线10和7的长度和宽度分别为190微米和41微米,传输线1和8的总长度和宽度分别为170微米和30微米,传输线1与8之间的间隔为16微米;第七步制备聚酰亚胺牺牲层19在第六步制得的硅片上,涂一层聚酰亚胺牺牲层19,该层的厚度约3微米;第八步光刻并腐蚀聚酰亚胺牺牲层19光刻出用于支撑悬臂梁3的部分,用氢氧化钠溶液腐蚀,去除聚酰亚胺牺牲层19的其余部分;第九步亚胺化在氮气条件下,将聚酰亚胺牺牲层19加温至300℃,恒温1小时,自然冷却,使聚酰亚胺牺牲层19固化,利于后续工艺图形完整;第十步正胶光刻接触层20的图形用正胶光刻形成接触层20的图形;第十一步蒸发金-铬双金属层21在光刻好的图形上,用真空蒸发技术蒸发铬-金双金属层21,其中金层厚度为200纳米,铬层厚度为15纳米;第十二步形成接触层2用丙酮溶液去除第十步形成的光刻胶和光刻胶上的铬-金双金属层21,形成接触层2;第十三步制备悬臂梁氮化硅薄膜22采用用等离子增强化学气相淀积(PECVD)的方法淀积悬臂梁氮化硅薄膜22,厚度为2900~3100;第十四步制备并腐蚀氮化硅的铝保护层23蒸发铝保护层23,厚度约为5000,然后光刻需保护的悬臂梁图形3,其余部分的铝用磷酸腐蚀去除;第十五步形成悬臂梁3以六氟化硫为气源,用等离子体刻蚀氮化硅,形成悬臂梁3,然后去胶,腐蚀剩余的铝保护层23,形成的悬臂梁3的长度和宽度分别为370微米和80微米;第十六步制备上电极金属层24 用真空蒸发技术蒸铝膜,作上电极金属层24,铝膜的厚度为5000-8000,光刻上电极12、4的图形;第十七步形成上电极12,4用磷酸腐蚀铝膜,即上电极金属层24,形成上电极12、4;第十八步形成悬臂梁3的空间结构用氧等离子体刻蚀,去除聚酰亚胺牺牲层19,形成空气隙,时间为45分钟-1.5小时,最后得到完整的硅基微机械微波/射频开关芯片。
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