[发明专利]基于增强型的参数化引用定值链的可观测性覆盖评估方法无效
申请号: | 03147260.5 | 申请日: | 2003-07-11 |
公开(公告)号: | CN1494122A | 公开(公告)日: | 2004-05-05 |
发明(设计)人: | 吕涛;李晓维;樊建平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/82;G06F17/50 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100080*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及超大规模集成电路的设计验证技术领域,特别是一种基于增强型FUD链的可观测性覆盖评估方法,该方法通过添加“动态分支”域扩充了FUD链的功能,使之能够记录程序动态执行轨迹,并利用此增强型FUD链表征硬件设计方案的可观测性信息,进而评估模拟验证的可观测性覆盖率。该方法的基本策略包括三方面:(1)使用增强型FUD链表征可观测性信息;(2)事件驱动分析;(3)与可控制性覆盖准则结合的可观测性覆盖率计算方法。本发明所提出的方法可以与现有多种可控制性覆盖准则相结合,使得可控制性与可观测性的覆盖情况可以联合评估,从而提高覆盖准则的评估能力。 | ||
搜索关键词: | 基于 增强 参数 引用 定值链 观测 覆盖 评估 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于增强型FUD链的可观测性覆盖评估方法,包括如下步骤:1)选择一种可控制性覆盖评估准则,建立起该准则的评估对象与程序中变量的定值和引用之间的关联关系;2)选择一种控制流分析算法,并实现该算法;3)选择一种数据流分析算法,并实现该算法,同时扩充其FUD链,在汇聚结点处增加“动态分支”域;4)为程序中每个变量定值和引用设置计数器,并实现代码,其功能是在模拟开始的时刻将计数器清0;5)选择一种事件触发方法;6)实现第一类事件的响应代码,即,当程序执行到控制流的汇聚结点,更新该结点处的“动态分支”域的值,以记录最新的程序执行轨迹;7)实现第二类事件的响应代码,即,当某个观测点的值更新之后,沿着该处的FUD链反向追踪,分析设计方案的可观测性覆盖情况,并更新相应的计数器;若遇到汇聚结点,则选择与其“动态分支”域相应的分支处的定值,继续分析,直到某个变量引用的FUD链为空,则分析完毕;8)依据1)中的关联关系,通过变量引用和定值的可观测性信息来统计待评估对象的可观测性信息,并实现计算可观测性覆盖率的代码,该代码在模拟完毕的时刻被调用。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造