[发明专利]记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法无效
| 申请号： | 03129679.3 | 申请日： | 2003-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN1567556A | 公开（公告）日： | 2005-01-19 |
| 发明（设计）人： | 郭俊;曹辉;印义言 | 申请（专利权）人： | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/82;G01R31/28;G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法，本发明的测试平台包括通用的记忆卡(1)，设计的记忆卡(2)，仿真器(3)，PC机(4)；将N条测试指令一一输入到所述的通用的记忆卡(1)并将对应结果输入到PC机(4)；同样将N条测试指令一一输入到设计的记忆卡(2)，通过VerilogHDL或者VHDL仿真器(3)得到测试结果，并将对应结果输入到PC机(4)；所述的N条测试指令是指对应于一定的设计的记忆卡所需的测试指令条数；比较两个结果：结果相同，表明设计的记忆卡硬件正确或者实时修改设计的记忆卡硬件；本发明的有益效果是：由于利用了已有的标准进行测试，减少了设计中人为的出错因素、减少了设计的迭代过程，测试的效率更高。 | ||
| 搜索关键词： | 记忆 rtl 实时 硬件 测试 平台 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台：包括通用的记忆卡(1)，设计的记忆卡(2)，仿真器(3)，PC机(4)；将N条测试指令一一输入到所述的通用的记忆卡(1)并将对应结果输入到PC机(4)；同样将N条测试指令一一输入到设计的记忆卡(2)，通过Verilog HDL或者VHDL仿真器(3)得到测试结果，并将对应结果输入到PC机(4)；所述的N条测试指令是指对应于一定的设计的记忆卡所需的测试指令条数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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