[发明专利]具有X－射线荧光检查功能的X－射线诊断设备无效
| 申请号： | 03101865.3 | 申请日： | 2003-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN1518951A | 公开（公告）日： | 2004-08-11 |
| 发明（设计）人： | 小野正彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种具有X－射线荧光透视检查功能的X－射线诊断设备和X－射线荧光检查法，其中设备包括发生器、检测器、积分器、比较器和控制器。在该设备和方法中，间歇地产生用于X－射线荧光检查的第一X－射线。检测透射过X－射线荧光检查的对象的透射X－射线。在第一X－射线的间歇产生的周期中对获得的X－射线透射数据进行积分并将其与基准值进行比较。在间歇产生的周期中响应积分的X－射线透射数据达到基准值，停止第一X－射线的间歇产生。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 射线 荧光 检查 功能 诊断 设备 | ||
【主权项】：
1.一种X-射线荧光检查设备，包括：间歇地产生用于X-射线荧光检查的第一X-射线的发生器；检测透射过X-射线荧光检查的对象的第一X-射线的透射X-射线并输出X-射线透射数据的检测器；在第一X-射线的间歇产生的周期中对X-射线透射数据进行积分的积分器；将积分的X-射线透射数据与基准值进行比较的比较器；和在所说的间歇产生周期中响应达到基准值的积分的X-射线透射数据以停止发生器的控制器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝，未经株式会社东芝许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03101865.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：易于装卸针头的采血器
- 下一篇：在感兴趣的对象上生成定位标记的工具和方法
