[发明专利]贴合晶片的制造方法有效
申请号: | 02802464.8 | 申请日: | 2002-07-09 |
公开(公告)号: | CN1465104A | 公开(公告)日: | 2003-12-31 |
发明(设计)人: | 阿贺浩司;富泽进一;三谷清 | 申请(专利权)人: | 信越半导体株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 黄剑锋 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种贴合晶片的制造方法,通过离子注入剥离法制造贴合晶片,该离子注入剥离法至少具有下列工序,即,将具有通过气体离子注入形成了微小气泡层的结合晶片与作为支持基板的基晶片进行接合的工序、及以上述微小气泡层为界剥离结合晶片从而在基晶片上形成薄膜的工序;其特征是:在剥离前述结合晶片后的贴合晶片上,在惰性气体、氢气、或这些气体的混合气体环境下施行热处理,然后对该贴合晶片施行热氧化,在前述薄膜表面形成热氧化膜,且除去该热氧化膜,由此减少前述薄膜的厚度。由此提供一种贴合晶片的制造方法,能在维持利用离子注入剥离法制造的贴合晶片的薄膜的膜厚均一性的同时,确实除去表面的损伤或缺陷,且能充分适用于量产技术。 | ||
搜索关键词: | 贴合 晶片 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种贴合晶片的制造方法,通过离子注入剥离法制造贴合晶片,该离子注入剥离法至少具有下列工序,即,将具有通过气体离子注入形成了微小气泡层的结合晶片与作为支持基板的基晶片进行接合的工序、及以上述微小气泡层为界剥离结合晶片从而在基晶片上形成薄膜的工序;其特征是:在剥离前述结合晶片后的贴合晶片上,在惰性气体、氢气、或这些气体的混合气体环境下施行热处理,然后对该贴合晶片施行热氧化,在前述薄膜表面形成热氧化膜,且除去该热氧化膜,由此减少前述薄膜的厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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