[实用新型]电子元件参数测量固定装置无效

专利信息
申请号: 02226102.8 申请日: 2002-03-06
公开(公告)号: CN2531398Y 公开(公告)日: 2003-01-15
发明(设计)人: 黎继兴 申请(专利权)人: 黎继兴
主分类号: G01R15/00 分类号: G01R15/00;G01R31/00
代理公司: 深圳市中知专利代理有限责任公司 代理人: 成义生
地址: 518019 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种电子元件参数测量固定装置,它属于一种电子元件参数测试的辅助装置,其特征在于它是由壳体和设在壳体内部的固定操纵机构组成;固定操纵机构由一个操纵杆、一组用来夹紧电子元件的金属片组夹头和一组导电插脚组成,导电插脚与所述的金属组片夹头连通;操纵杆通过固定轴固定在所述的两金属片组夹头中间部位的壳体内;操纵杆由设在壳体一侧的调节口伸出壳体。本实用新型结构简单,可以实现各类电子元件在万用表或LC表上的测量时的位置固定,并且容易的与万用表或LC表结合使用,实现对不同结构的电子元件的参数的测量,特别是简化了用万用表和LC表测试贴片电子元件的参数程序,操作简单,测量的参数精度高。
搜索关键词: 电子元件 参数 测量 固定 装置
【主权项】:
1、一种电子元件参数测量固定装置,其特征在于它是由壳体(2)和设在壳体(2)内部的固定操纵机构组成;所述的固定操纵机构由一个操纵杆(1)、一组用来夹紧电子元件的金属片组夹头(4)和一组导电插脚(3)组成,所述的导电插脚(3)与所述的金属组片夹头(4)连通;所述的操纵杆(1)通过固定轴(6)固定在所述的两金属片组夹头(4)中间部位的壳体(2)内;所述的操纵杆(1)由设在壳体(2)一侧的调节口(22)伸出壳体(2)。
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