[发明专利]X光平面检测器有效
| 申请号: | 02140023.7 | 申请日: | 2002-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN1438713A | 公开(公告)日: | 2003-08-27 |
| 发明(设计)人: | 池田光志;铃木公平;金野晃 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
| 主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00;H01L27/14;A61B6/00;G03B42/02 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
| 地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | X光平面检测器,具有:通过入射的X射线进行感光产生信号电荷的X光感光膜;和连接在上述X光感光膜上的二维配置的多个像素电极;和为了于上述X光感光膜内产生的作为信号电荷的空穴和电子中,向上述的多个像素电极收集迁移率高的一方,而向上述X光感光膜施加偏置电压的偏置电压施加单元;和设置在每个上述的像素电极内,蓄积在上述X光感光膜上产生的电荷的多个电容器;和设置在每个上述的像素电极内,读取在上述电容器中蓄积的电荷的多个开关薄膜晶体管;和供给上述多个开关薄膜晶体管开关控制的控制信号的多条扫描线;和连接在上述多个开关薄膜晶体管上,在该开关薄膜晶体管关闭时读取上述电荷的多条信号线。 | ||
| 搜索关键词: | 平面 检测器 | ||
【主权项】:
1、一种X光平面检测器,包括:通过入射的X光被感光而产生信号电荷的X光感光膜;与前述X光感光膜相连接并二维配置的多个像素电极;向前述X光感光膜施加偏置电压的偏置电压施加单元,使作为上述X光感光膜中产生的信号电荷的空穴和电子中迁移率高的一方收集到上述多个像素电极中;设置在每个前述像素电极中并蓄积所述X光感光膜产生的电荷的多个电容器;设置在每个前述像素电极中并读出所述电容器蓄积的电荷的多个开关薄膜晶体管;提供用于开关控制前述的多个开关薄膜晶体管的控制信号的多个扫描线;连接在前述多个开关薄膜晶体管上的,在前述的开关薄膜晶体管关断时读取前述电荷的多条信号线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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