[发明专利]自行对准编码的罩幕式只读存储器的制造方法有效
申请号: | 02127586.6 | 申请日: | 2002-08-01 |
公开(公告)号: | CN1472799A | 公开(公告)日: | 2004-02-04 |
发明(设计)人: | 杨俊仪;杨大弘 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8246 | 分类号: | H01L21/8246 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种自行对准编码的罩幕式只读存储器的制造方法,该方法于基底中形成复数条位线后,于基底上形成复数条字线与位于字线上的复数个第一阻挡墙。接着,于第一阻挡墙、字线之间的间隙形成复数个第二阻挡墙,并定义第一阻挡墙,使第一阻挡墙转为复数个阻挡柱,其中阻挡柱与第二阻挡墙将基底界定出复数个预定编码区。然后,于基底上形成一编码罩幕,此编码罩幕具有复数个编码开口暴露部分预定编码区。进行一编码离子植入步骤,以于编码开口所暴露的预定编码区中形成复数个编码区后,移除编码罩幕。 | ||
搜索关键词: | 自行 对准 编码 罩幕式 只读存储器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种自行对准编码的罩幕式只读存储器的制造方法,其特征在于:该方法包括:于一基底中形成复数条位线;于该基底上形成一栅极介电层;于该基底上形成一导体层;于该导体层上形成一第一阻挡层;定义该导体层与该第一阻挡层,以形成复数条字线与位于该些字线上的复数个第一阻挡墙;于该些第一阻挡墙、该些字线之间的间隙形成复数个第二阻挡墙;在对应于该些位线上方的该基底上形成一第一光阻图案;以该第一光阻图案为罩幕,蚀刻该些第一阻挡墙,使该些第一阻挡墙转为复数个阻挡柱,其中该些阻挡柱与该些第二阻挡墙将该基底界定出复数个预定编码区;去除该第一光阻图案;于该基底上形成一第二光阻图案,该光阻图案具有复数个编码开口,该些编码开口对应于部分该些预定编码区,且该些编码开口的尺寸大于该些预定编码区的尺寸;以该第二光阻图案以及该些阻挡柱与该些第二阻挡墙为罩幕,进行一编码离子植入步骤,以在该些编码开口所对应的该些预定编码区中形成复数个编码区;去除该第二光阻图案。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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