[发明专利]三坐标测量方法及其测量装置无效

专利信息
申请号: 02113353.0 申请日: 2002-02-09
公开(公告)号: CN1436999A 公开(公告)日: 2003-08-20
发明(设计)人: 杨学智;朱文 申请(专利权)人: 朱文
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 重庆创新专利事务所有限公司 代理人: 张先芸
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 一种三坐标测量方法及其装置,利用高平面度的平板和高垂直度的正立方体作为测量基准,把被测物体固定在立方体上,被测物体随立方体在平板上三维翻滚,建立一个三维互相垂直的坐标体系,在一维测高量具和平面移动的配合下,把被测物体的三维尺寸和几何形状计量变成为一个测高和测量平行度的问题。本发明构思巧妙、结构简单、制造成本低,还具有测量功能多、精度高、使用方便等优点,尤其是价格便宜,对操作者技能要求不高,特别适合中小型工厂、机械加工车间和实验室选用。
搜索关键词: 坐标 测量方法 及其 测量 装置
【主权项】:
1、三坐标测量方法,其特征在于:利用高平面度的平板和高垂直度的正立方体作为测量基准,把被测物体固定在正立方体的一个平面上,被测物体随正立方体在平板上三维翻滚,建立一个三维互相垂直的坐标体系,在一维测高量具和平面移动的配合下,把被测物体的三维尺寸和几何形状的计量变成为一个测高和测量平行度的问题。
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