[发明专利]利用散斑图像处理技术检测和定位环境扰动的多光纤二维阵列装置无效

专利信息
申请号: 01823210.8 申请日: 2001-03-27
公开(公告)号: CN1505751A 公开(公告)日: 2004-06-16
发明(设计)人: 哈里什·K·萨达纳;杰格迪什·K·查伯雷;索姆纳特·班迪奥帕迪亚雅;普雷蒙德·K·戈埃尔 申请(专利权)人: 科学与工业研究会
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353;G01L1/24;G08B13/186;G01H9/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 蒋世迅
地址: 印度*** 国省代码: 印度;IN
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种利用多模光纤阵列检测分布方式扰动和定位(区域识别)扰动的系统,具体地说,本发明涉及有4×3(12)条多模光纤的二维阵列基散斑图形检测系统,用于检测多个区域中的扰动,所述多模光纤被电荷耦合器件(CCD)摄像机并行成像,并利用常规的图像处理硬件分析其散斑图形以测定扰动。
搜索关键词: 利用 图像 处理 技术 检测 定位 环境 扰动 光纤 二维 阵列 装置
【主权项】:
1.一种利用多模光纤的二维阵列检测和定位(区域识别)分布方式扰动的系统,其特征是,利用检测模块中的二维多光纤转接器(MFA),其中所述系统包括:源模块,穿过需要进行扰动检测的区域中一条或多条多模光纤,和接收模块;该接收模块是由检测模块,电荷耦合器件(CCD)摄像机和图像处理单元构成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科学与工业研究会,未经科学与工业研究会许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01823210.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top