[发明专利]薄膜形成方法及薄膜形成装置无效

专利信息
申请号: 01820349.3 申请日: 2001-12-11
公开(公告)号: CN1479805A 公开(公告)日: 2004-03-03
发明(设计)人: 山﨑英亮;河野有美子 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;H01L21/285
代理公司: 北京东方亿思专利代理有限责任公司 代理人: 陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种采用ALD法的薄膜形成方法及薄膜形成装置,通过ALD法将多种原料气体逐类、并经多次供应,进行成膜,在此工序之前,实施同时提供多种原料气体的前置处理,从而使得成膜中的潜伏期缩短并提高产率。
搜索关键词: 薄膜 形成 方法 装置
【主权项】:
1.一种薄膜形成方法,在基片上反应多种原料气体,从而在该基片上形成薄膜,其特征在于,具有:同时提供所述多种原料气体的工序;以及在实施该工序后,通过将所述多种原料气体逐类、并经多次供应,从而形成膜的工序。
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