[发明专利]具有集成元件学习能力的光学检测系统无效
| 申请号： | 01816714.4 | 申请日： | 2001-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN1571923A | 公开（公告）日： | 2005-01-26 |
| 发明（设计）人： | 埃里克L·奥尔德里奇;理查德·派伊;莱尔·舍伍德;道格拉斯W·雷蒙德;约翰·伯内特 | 申请（专利权）人： | 良瑞科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G01R31/309;H05K13/08 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 张天舒;谢丽娜 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本文公开一种自动光学检测(AOI)系统包括与电路板检测过程集成在一起的元件学习。AOI系统包括一个元件学习区，该元件学习区可以由一个用于在检测区中检测电路板的成像系统观看到。元件学习区对应于靠近检测区的区域。自动光学检测系统接收板检测和对元件学习的请求，并且决定在板检测过程中学习新元件特征的合适时期，以此将学习过程对整个检测效率的影响减到最小。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 集成 元件 学习 能力 光学 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检测系统，其包括：具有检测区和学习区的基座，所述检测区用来支撑要被检测的电路板，所述学习区用来支撑具有由所述系统学习的特征的元件；摄像机组件，其支撑用来对所述检测区的电路板进行成像的摄像机和在所述学习区的所述元件；与所述摄像机组件相连的处理器，用来集成所述电路板和元件的图像获取。
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