[发明专利]基片处理装置及处理方法无效
申请号: | 01814042.4 | 申请日: | 2001-08-10 |
公开(公告)号: | CN1446373A | 公开(公告)日: | 2003-10-01 |
发明(设计)人: | 神力博;本间孝治 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/31;C23C16/40;C23C16/455 |
代理公司: | 北京东方亿思专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种基片处理装置,具有处理容器、在所述处理容器中设置为夹着被处理基片而对置的第1及第2处理气体供给口、设置为与第1及第2处理气体流大略正交的切口状的第1及第2排气口。所述的第1及第2排气口在所述第1及第2处理气体供给口处,夹着所述被处理基片相对而置。第1处理气体从所述第1处理气体供给口向所述第1排气口的方向,沿着所述被处理基片表面流动,并吸附到所述被处理基片表面上。然后,第2处理气体从所述第2处理气体供给口向所述第2排气口的方向,沿着所述被处理基片表面流动,所述第2处理气体与先前吸附的第1处理气体分子反应,形成1个分子层的高电介质膜。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种基片处理装置,其特征在于,它具有:处理容器;设置在所述处理容器中,可保持被处理基片的基片保持台;在所述处理容器中,形成在所述基片保持台的第1侧,对所述基片保持台上的所述被处理基片表面供给第1处理气体的第1处理气体供给装置,其供给气体时,使第1处理气体沿着所述被处理基片表面,从所述第1侧流向与所述第1侧对置的第2侧;所述处理容器中,形成在所述基片保持台的所述第2侧的第1排气口;在所述处理容器中,形成在所述基片保持台的第2侧,对所述基片保持台上的所述被处理基片表面供给第2处理气体的第2处理气体供给装置,其供给气体时,使第2处理气体沿着所述被处理基片表面,从所述第2侧流向所述第1侧;所述处理容器中,形成在所述基片保持台的所述第1侧的第2排气口。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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