[发明专利]基片处理装置及处理方法无效

专利信息
申请号: 01814042.4 申请日: 2001-08-10
公开(公告)号: CN1446373A 公开(公告)日: 2003-10-01
发明(设计)人: 神力博;本间孝治 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L21/31;C23C16/40;C23C16/455
代理公司: 北京东方亿思专利代理有限责任公司 代理人: 陆锦华
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摘要: 一种基片处理装置,具有处理容器、在所述处理容器中设置为夹着被处理基片而对置的第1及第2处理气体供给口、设置为与第1及第2处理气体流大略正交的切口状的第1及第2排气口。所述的第1及第2排气口在所述第1及第2处理气体供给口处,夹着所述被处理基片相对而置。第1处理气体从所述第1处理气体供给口向所述第1排气口的方向,沿着所述被处理基片表面流动,并吸附到所述被处理基片表面上。然后,第2处理气体从所述第2处理气体供给口向所述第2排气口的方向,沿着所述被处理基片表面流动,所述第2处理气体与先前吸附的第1处理气体分子反应,形成1个分子层的高电介质膜。
搜索关键词: 处理 装置 方法
【主权项】:
1、一种基片处理装置,其特征在于,它具有:处理容器;设置在所述处理容器中,可保持被处理基片的基片保持台;在所述处理容器中,形成在所述基片保持台的第1侧,对所述基片保持台上的所述被处理基片表面供给第1处理气体的第1处理气体供给装置,其供给气体时,使第1处理气体沿着所述被处理基片表面,从所述第1侧流向与所述第1侧对置的第2侧;所述处理容器中,形成在所述基片保持台的所述第2侧的第1排气口;在所述处理容器中,形成在所述基片保持台的第2侧,对所述基片保持台上的所述被处理基片表面供给第2处理气体的第2处理气体供给装置,其供给气体时,使第2处理气体沿着所述被处理基片表面,从所述第2侧流向所述第1侧;所述处理容器中,形成在所述基片保持台的所述第1侧的第2排气口。
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