[发明专利]带测试接口的集成电路无效
| 申请号： | 01800932.8 | 申请日： | 2001-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN1366614A | 公开（公告）日： | 2002-08-28 |
| 发明（设计）人： | F·G·M·德容;R·F·舒特尔特;J·德维尔德;G·W·登贝斯滕;B·M·J·库普;A·J·P·M·范乌登 | 申请（专利权）人： | 皇家菲利浦电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明,陈景峻 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及带测试接口的集成电路,该测试接口用于测试集成电路中的电源焊点与功能块电源之间的传导连接。电流测试电路具有与沿该传导连接的第一和第二点耦合的测试输入,用于将跨在测试输入上的电压与一个阈值进行比较。该电流测试电路包括一个阈值改变电路,当该阈值改变电路处于激活状态时,它根据跨在输入上的电压来改变阈值。上述测试分为二步进行,当在测试输入上施加第一电压时,激活阈值改变电路并且在测试输入处将第二电压与已改变的阈值进行比较。当集成电路被设置成对所述传导连接进行分流时,第一和第二电压中的一个是跨在传导连接上的电压降,第一和第二电压中的另一个是参考电压。在一个实施方案中,集成电路有一个分路,该电路引发与功能块电流并联的通过被测传导连接的电流。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 接口 集成电路 | ||
【主权项】：
1.带测试接口的集成电路，该集成电路包括-电源焊点；-带电源输入的功能块；-电源焊点与电源输入之间的传导连接-带测试输入的电流测试电路，该测试输入与沿着传导连接的第一和第二点相耦合，用于将跨在测试输入上的电压与阈值进行比较，该电流测试电路包括用于在其处于激活状态时，根据跨在测试输入上的电压来将阈值改变到一个改变值的阈值改变电路；-其中的测试接口与阈值改变电路和电流测试电路相连接，并且该测试接口提供用于执行的测试命令，该执行至少包括以下步骤：当在测试输入上施加第一电压时激活阈值改变电路并且将在测试输入上的第二电压与被改变阈值进行比较，第一和第二电压中的一个是当该集成电路被设置成对沿着所述连接方向的电流进行分流时连接之间的电压降，第一和第二电压中的另一个是参考电压。
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