[发明专利]带测试接口的集成电路

权利要求书

1.带测试接口的集成电路，该集成电路包括

-电源焊点；

-带电源输入的功能块；

-电源焊点与电源输入之间的传导连接

-带测试输入的电流测试电路，该测试输入与沿着传导连接的第一和第二点相耦合，用于将跨在测试输入上的电压与阈值进行比较，该电流测试电路包括用于在其处于激活状态时，根据跨在测试输入上的电压来将阈值改变到一个改变值的阈值改变电路；

-其中的测试接口与阈值改变电路和电流测试电路相连接，并且该测试接口提供用于执行的测试命令，该执行至少包括以下步骤：当在测试输入上施加第一电压时激活阈值改变电路并且将在测试输入上的第二电压与被改变阈值进行比较，第一和第二电压中的一个是当该集成电路被设置成对沿着所述连接方向的电流进行分流时连接之间的电压降，第一和第二电压中的另一个是参考电压。

2.根据权利要求1的集成电路，包括用于对该集成电路进行切换的开关、阈值改变道路，当该阈值改变电路处于激活状态时，将该阈值改变到一个等于测试输入间的电压的电平上，并且随后在进行所述的比较时改变一个预设的量。

3.根据权利要求2的集成电路，将测试接口布置成选择该预设的量。

4.根据权利要求1的集成电路，包括一个用于生成所述改变和所述比较步骤的相对时间的计时器。

5.根据权利要求1的集成电路，包括一个开关网络，用于当施加该参考电压时，将测试输入连接到一个公共节点。

6.根据权利要求5的集成电路，该开关网络包括第一、第二、第三和第四晶体管，该测试输入中的第一个通过第一和第二晶体管的主电流沟道分别与第一点和该公共节点相耦合，该测试输入中的第二个通过第三和第四晶体管的主电流沟道分别与第二点和公共节点相耦合，当该测试输入与该公共节点连接时第二和第四晶体管的控制电极被激活，当对该测试输入施加该电压降时第一和第三晶体管的控制电极被激活。

7.根据权利要求6的集成电路，该电流测试电路包括

-节点；

-第一、第二和第三电流源电路，每一个电路带有一个与该节点相耦合的电流输出，该第一电流源电路具有一个与该电源连接相耦合的电流控制输入；

-比较器包括一个与该节点耦合的输入和一个与该集成电路测试结果输出耦合的输出；

-在该节点和该第二电流源输入之间的控制开关；

-控制电路，它被布置成使该开关导通由此改变所述的阈值，在进行所述的比较期间使该开关不导通并且在使得该开关不导通之后和测定探测结果之前引起第三电流源电路改变供应到该节点的电流，由此将阈值补偿了一个预设的从进行改变时所达到的电平的量。

8.根据权利要求1的集成电路，包括一个用于输入测试命令和读取测试结果的扫描链电路，该扫描链电路与阈值改变电路和电流测试电路耦合以响应对电源电流进行测量的命令，该电流测试电路相继激活或者闲置该阈值改变电路并且对该电流测试电路的探测结果进行采样，该集成电路包括一个用于控制至少所述的自动地闲置的控制时间的计时电路，不需要另一个来自扫描链电路的命令。

9.根据权利要求1的集成电路，该测试接口被布置成在进行所述的比较或改变之前的一个预设的时间间隔去激活该功能块的输出缓冲器的输出，无论比较还是改变都涉及在所述测试输入上施加所述的电压降，为了在该测试输入上施加该电压降以便启动对沿着所述连接的电流进行分流。

10.根据权利要求1的集成电路，包括一个可切换的分路，与功能块并联的分路的主电流路径以便通过与功能块并联的传导连接对来自电源焊点的电流进行分流，测试接口被布置成为在集成电路正常运行时来维持该分路处于不导通状态并且该测试接口至少当集成电路被设置成对沿着所述连接的电流进行分流以便在该测试输入上施加该电压降时将分路切换成导通状态。