[发明专利]电子元件的制造方法有效

专利信息
申请号: 01122663.3 申请日: 2001-06-27
公开(公告)号: CN1161833C 公开(公告)日: 2004-08-11
发明(设计)人: 细川哲夫 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L41/053;H03H3/10
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 孙敬国
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明揭示一种在施加了焊接保护膜层的部分进行空洞加工并形成外装树脂层的电子元件的制造方法,在滤波器单元(1)上形成焊接保护膜涂料层(9a、9b、9c),在该涂料层上涂布相对于焊接保护膜涂料的相对湿润性比空洞形成用蜡高的在外装树脂的热硬化时被外装树脂层吸收的焊剂(10、11),在空洞形成区域上涂布空洞形成用蜡(12),然后涂布外装树脂(A),并利用加热使其硬化。相对于所述焊接保护膜的相对湿润性比空洞形成材料高,并且在外装树脂热硬化时被吸收的材料是含有非离子性的卤族元素活性剂的焊剂。本发明的制造方法使空洞内难以产生空洞形成用蜡的残留。
搜索关键词: 电子元件 制造 方法
【主权项】:
1.一种电子元件的制造方法,所述电子元件包括空洞的外装树脂层,所述空洞是在加热硬化时通过吸收空洞形成材料而形成的,其特征在于,所述制造方法包括下述工序:准备电子元件单元的工序、在所述电子元件单元的外周面的至少一部分上形成焊接保护膜层的工序、在所述焊接保护膜层上,至少在形成所述空洞的区域上,施加相对于焊接保护膜的相对湿润性比空洞形成材料高的材料的工序,所述材料在外装树脂热硬化时被外装树脂层吸收、在形成所述空洞的区域上施加在外装树脂热硬化时被吸收的空洞形成材料的工序、和在施加所述空洞形成材料后,涂布外装树脂,以便覆盖电子元件单元的外表面,并利用加热进行硬化的工序,相对于所述焊接保护膜的相对湿润性比空洞形成材料高,并且在外装树脂热硬化时被吸收的材料是含有非离子性的卤族元素活性剂的焊剂。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社村田制作所,未经株式会社村田制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01122663.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top