[发明专利]一种γ背散射成像无损检测方法与装置

摘要

本发明属于核技术应用领域，该方法是将检测单元设置在被检客体的同一侧；由射线源射出的γ射线束周期性地扫描客体；由探测器同步测量客体被γ射线束照射时各部位产生的背散射，并将测得信号按时序排列、转换为被检客体的二维的背散射数字图像；该装置包括辐射防护屏蔽装置及设置在其内的γ射线源、探测器与信号采集与处理单元，γ射线源及其辐射防护屏蔽装置、探测器为由一个或多个器件组成背散射探测器。本发明具有使被检客体内有机物的影像自动“加亮”的功能，且体积小，并解决了空间分辨率与探测器灵敏度的矛盾。

主权项

1、一种γ背散射成像无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 1)将由屏蔽容器及设置其内的γ射线束源，探测器构成的检测单元设置在被检客体 的同一侧； 2)由所说的射线源射出并被准直的γ射线束周期性地扫描客体； 3)使用拖动机构将被测客体与所说的检测单元间实现沿垂直于γ射线束扫描面方向 的相对平移运动； 4)由所说的探测器同步测量客体被γ射线束照射时各部位产生的背散射，并将测得 信号按时序排列、转换为被检客体的二维的背散射数字图像，从而实现对被检客体的γ 背散射无损检测； 所说的射线源为⁶⁰Co、¹³⁷Cs、¹⁹²Ir或²⁴¹Amγ放射性同位素； 所说的γ射线束周期性地扫描客体的方法是依靠由所说的屏蔽容器中具有同固定不动 的内层屏蔽容器上扇形狭缝相垂直的狭缝状孔的外层屏蔽环围绕内层屏蔽容器旋转或摆 动而产生“笔形”γ射线束并实现周期性地扫描客体。