[发明专利]特定用途的基于事件的半导体存储器测试系统无效
| 申请号： | 01109769.8 | 申请日： | 2001-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN1321892A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 菅森茂 | 申请（专利权）人： | 株式会社鼎新 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测试半导体器件的半导体测试系统,设有多个不同的测试器模块和一算法模式产生器(ALPG),该算法模式产生器产生专用于被测器件中预期存储器的算法模式,从而获得低成本和特定用途的存储器测试系统。该半导体测试系统包括两个或更多个性能相互不同的测试器模块;一个用于产生算法模式的ALPG模块,该算法模式对该存储器是特定的;一测试系统主机,以容纳测试器模块和ALPG模块之组合;一测试固定装置,用于电连接该测试器模块和被测器件;一设置在该测试固定装置上的操作板,用于安装被测器件;及一主计算机,通过经测试器总线与测试器模块的通信,以控制该测试系统总的运行。 | ||
| 搜索关键词： | 特定 用途 基于 事件 半导体 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种半导体测试系统，包括：两个或更多个测试器模块，它们的性能彼此相同或不同；一算法模式产生器(ALPG)模块，用于产生算法模式，该算法模式对于被测器件中的存储器是特定的；一测试系统主机，用于在其中容纳测试器模块和ALPG模块的任意组合；一测试固定装置，设置于该测试系统主机上，用于电连接该测试器模块和被测器件；一操作板，设置在测试固定装置上，用于安装被测器件；及一主计算机，通过经测试器总线与该测试系统中的测试器模块进行通信，该主计算机用于控制该半导体测试系统总的运行。
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