[发明专利]具有扫描路径电路的半导体电路无效
申请号: | 00136650.5 | 申请日: | 2000-09-03 |
公开(公告)号: | CN1305226A | 公开(公告)日: | 2001-07-25 |
发明(设计)人: | 小野寺岳志 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R31/317 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用于压缩或编码扫描路径电路的输出数据的半导体电路,实现电路测试和故障分析,防止组合电路的配置从输入和输出而被猜出。将预定模式密钥数据混到输入数据中,将预定码型的密钥数据输入到扫描路径电路中,使其被扫描路径电路中的模式密钥电路提取。该密钥数据被模式保持电路从模式密钥电路提取,模式信号BE根据模式密钥数据在系统模式操作期间被产生。当模式密钥数据具有预定码型时,模式密钥信号变为预定的设定值,并且扫描路径电路的输出信号原样输出。否则,扫描路径电路的输出可隐藏。 | ||
搜索关键词: | 具有 扫描 路径 电路 半导体 | ||
【主权项】:
1.一种半导体电路,包括:一个用于连续把输入数据移位向输出侧的扫描路径电路和一个用于根据所述的输入数据或从所述扫描路径电路输入的测试数据执行预定的处理并输出处理结果到所述的扫描路径电路的功能电路,还包括:安装在所述扫描路径电路的预定位置的用于以并行方式输出输入到所述扫描路径电路的串行数据的模式密钥电路;用于对来自所述模式密钥电路的输出数据执行预定的逻辑运算并根据操作结果输出模式信号的模式信号产生电路;以及数据转换电路,用于在所述模式信号处于一个状态时按原样输出所述扫描路径电路的输出数据,而在所述模式信号处于一个不同于所述的一个状态的状态执行时对所述扫描路径电路的输出数据执行预定的处理,并输出不同于输入数据的数据。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造