[发明专利]阵列电离室探测装置有效

专利信息
申请号: 00121545.0 申请日: 1998-04-03
公开(公告)号: CN1142425C 公开(公告)日: 2004-03-17
发明(设计)人: 安继刚;周立业;刘以思 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 北京清亦华专利事务所 代理人: 廖元秋
地址: 1000*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属核技术应用领域,涉及阵列电离室探测装置。其中每个阵列电离室单元由耐压密封外壳、高压气体、窗口、电极系统及熔封绝缘子引出端组成,所说的耐压密封外壳兼作高压极;壳内部分或全部高压电极片与密封外壳相焊接。本发明具有轻便耐震的优点,可应用于移动式、固定式或其它形式的辐射成象检测系统,更加适应车载式检测站的需要。
搜索关键词: 阵列 电离室 探测 装置
【主权项】:
1、一种阵列电离室探测装置,其中每个阵列电离室单元由耐压密封外壳、高压气体、窗口、电极系统及熔封绝缘子引出端组成,该外壳内充装高压气体,该外壳底板构成窗口,该电极系统由相互交替排列的高压极片和收集极片组成,该外壳上端设有熔封绝缘子引出端,其特征在于,所说的耐压密封外壳兼作高压极;壳内的部分或全部高压电极片与密封外壳相焊接。
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