[发明专利]用于红外发光二极管的外延生长晶片和红外发光二极管有效

专利信息
申请号: 00118294.3 申请日: 2000-04-27
公开(公告)号: CN1160803C 公开(公告)日: 2004-08-04
发明(设计)人: 吉永敦;山本淳一 申请(专利权)人: 昭和电工株式会社
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 作为在p型GaAs单晶衬底上层积第一p型层、p型包覆层、p型有源层和n型包覆层后除去单晶的外延晶片,n型包覆层的载流子浓度为1×1017~1×1018cm-3,硫浓度为3×1016原子/cm3以下,层厚度为20~50μm。此外,从p型包覆层和第一p型层的界面到p型包覆层侧2μm以内的区域中硅浓度的最大值不足1×1018原子/cm3,第一p型层中碳、硫和氧的浓度不足1×1017原子/cm3。于是,用获得的外延晶片制作的红外LED输出大,偏差小。
搜索关键词: 用于 红外 发光二极管 外延 生长 晶片
【主权项】:
1.一种红外发光二极管用的外延晶片,在p型GaAs单晶衬底止用液相外延生长法顺序层积第一p型层Ga1-x1Alx1As、p型包覆层Ga1-x2Alx2As、发光波长在850~900nm范围内的p型有源层Ga1-x3Alx3As和n型包覆层Ga1-x4Alx4As后,除去该p型GaAs单晶衬底,其中,0.13≤X1≤0.40,0.23≤X2≤0.46,0≤X3≤0.03,0.13≤X4≤0.40,其特征在于,n型包覆层的载流子浓度在1×1017~1×1018cm-3范围内,并且硫浓度在3×1016原子/cm3以下。
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