专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于将连续的能量束跳跃式地移位的方法及制造装置-CN202180058991.7在审
  • W·迈纳斯;P·瓦根布拉斯特;V·布利克勒;M·阿伦贝里-拉贝;J·格吕内瓦尔德 - 通快激光与系统工程有限公司
  • 2021-07-21 - 2023-05-16 - B22F10/36
  • 在用于将连续的能量束(5)沿着由射束位置(17)的序列形成的照射路径(101)移位的方法中,照射路径(101)设置用于在制造装置(1)的工作区域(9)内将粉末材料(2)在粉末层中固化。在所述方法中,将连续的能量束(5)照射到粉末材料(2)上,以便在增材制造方法的框架内成型构件(4)的层。此外,通过将借助偏转装置(13)对能量束(5)的光学偏转和借助扫描装置(7)对能量束(5)的机械偏转叠加而将能量束(5)在工作区域(9)内移位。机械偏转设计用于将能量束(5)定位在布置在工作区域(9)内的多个照射位置(11)处,其中,照射位置(11)基本上跨越工作区域(9)。光学偏转设计用于将能量束(5)围绕偏转装置(13)的射束区域(15)内的照射位置(11)中的每个照射位置偏转到射束位置(17)的序列的至少一个射束位置上。光学偏转和机械偏转同时或相继改变,以便借助能量束(5)扫描射束位置(17)的序列。此外,偏转装置(13)和扫描装置(7)被控制为使得能量束(5)相继扫描子序列,所述子序列分别包括照射路径(101)的射束位置(17)的序列的至少一个射束位置,其中,能量束(5)通过跳跃式地改变光学偏转而跳过间隔开的子序列之间的区域,从而能量束相继占据空间上彼此间隔开的子序列。
  • 用于连续能量跳跃移位方法制造装置
  • [发明专利]校准用于增材制造的多个激光束-CN202180033156.8在审
  • G·卡瓦卡博;E·曼托安;V·布利克勒;C·赛勒;J·克劳特 - 通快增材制造意大利有限责任公司;通快激光与系统工程有限公司
  • 2021-04-29 - 2022-12-16 - B29C64/153
  • 公开了一种自动调节扫描光学器件(17A,17B)的方法,该方法包括以下步骤:用至少一个辐照束(15B)辐照(步骤101)设置在构建平台(11)上的粉末状材料(5)层的物体区域(3A);用至少一个辐照束(15B)辐照(步骤103)粉末状材料(5)层的校准区域(21A);以第一扫描光学器件(17A)将第一辐照束(15A)引导(步骤105A)到居间顶面(31)上,从而在居间顶面(31)中熔化出第一校准图案(37);以第二扫描光学器件(17B)将第二辐照束(15B)引导(步骤105B)到居间顶面(31)上,从而在居间顶面(31)中熔化出第二校准图案(39);获取(步骤107)居间顶面(31)的至少一个图像(35,51A,51B);使用至少一个图像(35,51A,51B)识别(步骤109)与校准图案的几何特征有关的图像点;根据图像点得出(步骤111)第一几何特征和第二几何特征之间的空间偏移量(O);以及在考虑空间偏移量(O)的情况下调节(步骤113)扫描光学器件中的至少一个扫描光学器件(17A)。
  • 校准用于制造激光束
  • [发明专利]借助由扫描器光具偏转测量激光射束来测量构建缸组件的基础元件的方法-CN201880071678.5有效
  • M·皮格;F·沙尔;S·丹巴赫;V·布利克勒 - 通快激光与系统工程有限公司
  • 2018-10-17 - 2022-12-13 - B22F3/105
  • 一种用于测量构建缸组件(11)的基础元件(13)的方法,所述基础元件尤其是基底(13a)或预制件(13b),其中,构建缸组件(11)布置在机器(1)上,所述机器用于通过借助高能射束(16)烧结或熔化粉末状材料(6)逐层制造三维对象(2),其中,基础元件(13)在构建缸组件(11)的基本上柱形的基体(14)中能借助活塞(12)移动,其中,为了测量基础元件(13),由激光产生测量图案(50),所述测量图案照射基础元件(13)的至少一个部分,并且,激光的入射地点(A1,A2)借助摄像机(21)被观察和分析评价并从而确定关于基础元件(13)的测量数据,所述测量数据包括位置信息和/或取向信息和/或关于基础元件(13)的表面(01‑03)的至少一个部分的三维构型的信息,其特征在于,由激光产生测量图案(50),其方式是,测量激光器(23)的激光射束(24)被扫描器光具(19)偏转,使得产生不同地经偏转的激光射束(24a),并且,经偏转的激光射束(24a)至少指向到基础元件(13)的所述部分上,并且,摄像机(21)相对于经偏转的激光射束(24a)在侧向错开布置。本发明提供一种简单的并且能灵活使用的用于测量基础元件的方法,所述方法以过程腔中的小的安装空间就足以实现。
  • 借助扫描器偏转测量激光射束来构建组件基础元件方法

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