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[发明专利]具有校准基板和电路的测量装置-CN200980141121.5有效
发明人： T·赛尔德;B·戈克 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2009-09-29 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有至少一个校准标样(12、14、16；102、104、108)的校准基板(100)，校准标样包括至少两个电接点，每个电接点均用于矢量网络分析仪(40)的一个测量端口(38、42)。根据本发明，至少一个校准标样(12、14、16；102、104、108)的至少一个电接点是由开关(20、22、24)形成，其中开关(20、22、24)包括：第一电触点(30)，其电连接到校准标样(12、14、16；102、104、108)的电接点；第二电触点(32)，其设计为用于电连接到矢量网络分析仪(40)的测量端口(38、42)；和第三电触点(34)，其中开关(20、22、24)设计成使得使得在第一电触点(30)和第三电触点(34)之间建立电接触或者在第一电触点(30)和第二电触点(32)之间建立电接触。
具有校准电路测量装置

[发明专利]用于确定散射参数的测量系统-CN200980141732.X有效
发明人： T·赛尔德;B·戈克 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2009-09-29 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于确定基板(38)上的电子测量对象(40、42、44、46、48)的散射参数的测量系统，该测量系统具有测量装置(10)，该测量装置(10)具有至少一个测量信道(18、20、22、24)和被电连接到至少一个测量信道(18、20、22、24)的至少一个测量探针(28)，所述至少一个测量探针(28)被设计成以非接触或接触的方式与电路中的电子测量对象(40、42、44、46、48)的电信号线(50)连接。根据本发明，为至少一个测量探针(28)设置第一定位装置(30)，其中，至少一个传感器(34)检测至少一个测量探针(28)的位置并且输出位置信号。
用于确定散射参数测量系统

[发明专利]非接触式环形探头-CN200980129928.7有效
发明人： T·赛尔德;B·戈克 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2009-07-15 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及用于非接触式测量系统的非接触式环形探头，用于以非接触的方式耦合出RF信号，该环形探头包括：至少一个耦合结构(10)；和至少一个第一信号导体(12)，所述第一信号导体(12)通过第一换接部(20)电连接到耦合结构(10)，所述信号导体通过第二换接部(22)电连接到用于电连接到测量系统的输出端(14)，其中耦合结构(10)被设计为包括至少一个信号导体(24；30)和至少一个参考导体(26、32)的RF波导。
接触环形探头

[发明专利]测量用探测器-CN200980127983.2有效
发明人： T·赛尔德;B·戈克 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2009-06-23 - 公布日： 2011-06-15 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量用探测器，其特别地用于非接触式矢量网络分析系统，该测量用探测器具有壳体(10)以及至少一个耦合结构(12)，耦合结构(12)被布置于壳体(10)上并被设计成耦合来自信号线路(16)的HF信号；其中，该测量用探测器还具有至少一个信号探测器(14)，信号探测器(14)被配置于壳体(10)上并用于将电信号耦合到信号线路(16)中。
测量探测器

[发明专利]环型定向耦合器-CN200880108399.8有效
发明人： T·赛尔德 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2008-07-17 - 公布日： 2010-08-18 - 主分类号： H01P5/18 文献下载
摘要：本发明涉及一种环型定向耦合器，其包括具有第一天线分支和第二天线分支的半环天线形式的第一波导，尤其是中空导体、平面导体或共轴导体，该环型定向耦合器用于无接触地提取第二波导上的正向信号a和所述第二波导上的反向信号b。为此，第一天线分支(12)连接至第一网络(18)的第一输入(20)并且第二天线分支(14)连接至第一网络(18)的第二输入(22)，该第一网络(18)在第一输入(20)处具有第一功率分配器(56)并且在第二输入(22)处具有第二功率分配器(58)，第一和第二功率分配器(56、58)用于分配存在于各天线分支(12、14)处的信号，该第一网络(18)具有将第一和第二功率分配器(56、58)的信号彼此相加的第一加法器(60)、和将第一和第二功率分配器(56、58)的信号彼此相减的第一减法器(62)。
定向耦合器

[发明专利]非接触式测量系统-CN200880101781.6有效
发明人： T·赛尔德 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2008-07-24 - 公布日： 2010-07-28 - 主分类号： G01R31/304 文献下载
摘要：本发明涉及非接触式测量系统，该非接触式测量系统具有至少一个测试探针(28)，测试探针(28)形成用于对信号波导(26)上所传输的信号进行非接触式解耦的耦合结构部分，其中，信号波导(26)被配置为电路板(24)上的电路导体和电路部分(52)。为此，在电路板(24)上配置及布置了至少一个接触结构(18；44)，从而使得接触结构(18；44)与信号波导(26)电流地分离、形成耦合结构部分、完全位于信号波导(26)的近场内、并且具有能够与测试探针(28)的触点电接触的至少一个接触点(42)。
接触测量系统

[发明专利]高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法-CN200780023964.6有效
发明人： T·赛尔德 -专利权人：罗森伯格高频技术有限及两合公司
申请日： 2007-06-19 - 公布日： 2009-07-08 - 主分类号： G01R27/28 文献下载
摘要：本发明涉及校准具有N个测试端口的高频测量装置的方法。对于HF测量装置的至少一个端口，在至少三个相互间隔的耦合位置处耦出在第二电导线上传送的HF信号，并且对于此至少三个耦合位置中的每个成对组合用采用散射参数是已知的至少一个校准标准件作为测量对象的预定的校准方法对于HF测试信号的至少一个频率确定一个散射参数，其中在HF测试信号的一个频率下对所有成对组合所确定的至少一个散射参数的值与已知校准标准件的该至少一个散射参数值进行比较，并且这样的耦合位置成对组合作为对该频率测量未知测量对象时优选采用的第一和第二耦合位置被存储，在此组合下所确定的散射参数值与已知的校准标准件散射参数之间的差别最小。
高频测量装置校准方法以及确定散射参数