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[发明专利]人工神经元装置-CN201780016998.6有效
发明人： E·艾勒夫瑟里奥;L·库尔;A·潘塔兹;A·塞巴斯蒂安;T·图玛;M·斯塔尼萨威尔杰维克 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2017-02-24 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G06N3/02 文献下载
摘要：人工神经元装置包括连接在具有神经元输入的输入电路中的电阻式存储器单元，用于接收神经元输入信号，以及用于将读取电流提供给单元的电流源。响应于一组控制信号，输入电路可选择性地配置，定义交替的读取和写入操作阶段，在读取阶段期间将读取电流施加到单元并将编程电流施加到单元，以在写入阶段期间编程单元电阻收到神经元输入信号。响应于连续的神经元输入信号，单元电阻从第一状态逐渐变为第二状态。该设备还包括包括神经元输出的输出电路，该输出电路和连接到输入电路的数字锁存器，用于接收取决于单元电阻的测量信号。
人工神经元装置

[发明专利]使用带电粒子显微镜检查样品的方法-CN202010756834.0在审
发明人： T·图玛;J·克卢萨切克;J·派特雷克 -专利权人： FEI公司
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G01N23/20091 文献下载
摘要：本发明涉及使用带电粒子显微镜检查样品的方法，其包含以下步骤：提供带电粒子射束以及样品；使所述带电粒子射束在所述样品上扫描；和使用第一检测器检测因响应于样品的扫描射束而产生的来自所述样品的第一类型的发射。检测到的所述第一类型的发射的光谱信息用于将多个相互不同的相位分配给所述样品。在另外的步骤中，参考HSV颜色空间，使对应的多种不同的颜色色调与所述多个相互不同的相位相关联。使用第二检测器检测因响应于样品的扫描射束而产生的来自所述样品的第二类型的发射。最后，提供了所述样品的图像表示。
使用带电粒子显微镜检查样品方法

[发明专利]用于位置感测的传感器装置和方法-CN201680015147.5有效
发明人： W·哈伯勒;A·潘塔兹;A·塞巴斯蒂安;T·图玛 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2016-03-09 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G01B7/14 文献下载
摘要：本公开涉及一种用于位置感测的传感器布置，其包括第一磁阻元件(1)和第二磁阻元件(2)。磁场源(3)提供具有第一磁极(N)和第二磁极(S)的磁场。磁场源(3)布置在第一磁阻元件(1)和第二磁阻元件(2)之间，并使第一磁极(N)面向第一磁阻元件(1)并且使第二磁极(S)面向第二磁阻元件(2)。第一磁阻元件(1)布置在磁场中并且根据第一磁阻元件(1)相对于磁场源(3)的位置来提供第一输出信号(R1)。第二磁阻元件(2)布置在磁场中并且根据第二磁阻元件(2)相对于磁场源(3)的位置来提供第二输出信号(R2)。测量单元被配置成根据第一输出信号(R1)和第二输出信号(R2)来确定磁场源(3)相对于第一磁阻元件(1)和第二磁阻元件(2)的位置。
用于位置传感器布置