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[发明专利]自对准的检测器单元的阵列-CN202180053734.4在审
发明人： S·麦特简 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2021-08-13 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：在一些示例中，公开了一种用于确定检查辐射的通量的方法，其中所述检查辐射由辐射源发射并且透射通过货物以基本上在透射平面(YOZ)中进行检查，其中在透射通过所述货物之后，检查辐射的所述通量入射到在基本上平行于所述透射平面(YOZ)的平面中延伸的至少一个检测器单元阵列上，所述阵列具有深度方向和基本上垂直于所述深度方向的纵向方向，所述检测器单元被配置成第一多个L以基本上形成所述阵列的行，检测器单元的每行基本上沿着平行于所述阵列的所述深度方向的方向延伸，所述检测器单元还被配置成第二多个λ以基本上形成所述阵列的列，检测器单元的每列基本上沿着平行于所述阵列的纵向方向的方向延伸，该方法包括：获得与所述阵列的每个检测器单元相关联的信号数据；以及基于用于每个检测器单元的所述信号数据，针对诸如1≤i≤L的每行i，确定入射到行i上的所述检查辐射的所述通量。
对准检测器单元阵列

[发明专利]具有交错列的检测器矩阵-CN202180035928.1在审
发明人： S·麦特简;J-M·福吉耶;T·波色里尔;E·盖瑟 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2021-05-17 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：在一个示例中，提供了一种被配置成在用于使用检查辐射检查货物的系统中被使用的检测器矩阵，该矩阵包括多列检测器模块，每列的所述检测器模块沿基本纵向方向延伸，每个检测器模块包括配置成接收检查辐射的表面，以及所述多列检测器模块在基本垂直于所述纵向方向并且基本平行于所述检测器模块的所述表面的横向方向上彼此相邻，其中，所述多列检测器模块包括在基本垂直于所述横向方向和所述纵向方向两者的深度方向上相对于彼此偏移的至少两列检测器模块。
具有交错检测器矩阵

[发明专利]脉冲频率调节-CN202180029775.X在审
发明人： J·班达翰;S·麦特简 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2021-04-19 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：在一个示例中，提供了一种用于处理与利用检查系统对货物进行检查相关联的数据的方法，该检查系统包括：辐射源，其被配置成发射以一频率照射所述货物的N个(N为多个)连续脉冲；以及矩阵检测器，其包括第一列p1检测器和至少一个第二列p2检测器，所述方法包括：获得与以当前频率fn对货物的至少一部分进行扫描相关联的数据，其中，所述扫描包括以相对扫描位移来移动货物和系统；在预定时刻t确定步速δ；确定所确定的步速δ是否可靠；如果确定步速δ可靠，则将当前频率fn更新为更新的频率fn+1，使得：其中F(X)是X的递增函数，使得F(1)＝1，以及δ0是预定步速；以及输出被配置成使得所述扫描以所述更新的频率为所述当前频率而被执行的数据。
脉冲频率调节

[发明专利]利用矩阵校正用于检测的图像和深度信息-CN202080094649.8在审
发明人： S·麦特简;S·格拉博伊;C·贝格拉特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2020-12-11 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01N23/10 文献下载
摘要：在一些示例中，描述了一种用于处理与由多个连续的X射线脉冲照射的货物相关联的检查数据的方法。该方法可以包括获得检查数据，该检查数据是作为使用包括多个至少两行检测器的矩阵和所述多个连续脉冲的源扫描所述货物的结果而生成的。在一些示例中，对应于照射所述货物的所述多个连续脉冲的辐射以第一顺序被布置在所述矩阵的所述多行检测器上，并且用于所述检查数据并且对应于不同顺序的一个或多个连续重构区域被确定。所述货物的中间图像和平均图像被生成。在所生成的平均图像上，像素可以被选择并且具有较少伪像的所述像素的邻域可以被提取。
利用矩阵校正用于检测图像深度信息

[发明专利]图像校正-CN201980065314.0在审
发明人： S·麦特简;G·杰古;J-M·福吉耶;C·贝格拉特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：在一个实施例中，公开了一种用于利用X射线检查货物的方法，包括：用包括至少两行检测器的矩阵扫描货物，其中，货物的由第一X射线脉冲照射的每个区域由至少一个第二X射线脉冲照射，并且与第一X射线脉冲相对应的辐射由矩阵的第一行检测，并且与至少一个第二脉冲相对应的辐射由矩阵的至少一个第二行检测；生成针对所述矩阵的所述第一行的所述货物的第一图像和针对所述矩阵的所述至少一个第二行的所述货物的至少一个第二图像；针对所述货物的由所述第一X射线脉冲和由所述至少一个第二X射线脉冲照射的每个区域，通过确定所述第一图像和所述至少一个第二图像的对应像素之间的局部相互移位来确定所述货物与所述矩阵之间的局部相互寄生移位；通过对所确定的局部相互移位求和来确定总相互寄生移位；以及基于第一图像和至少一个第二图像中的至少一者以及基于所确定的总相互寄生移位，生成没有相互寄生移位的货物的校正图像。
图像校正

[发明专利]材料的确定-CN201980065915.1在审
发明人： S·麦特简;Y·佩罗特 -专利权人：史密斯探测法国股份公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01V5/00 文献下载
摘要：在一示例中，公开了一种用于确定货物中的材料的方法，所述货物包括由第一材料制成的第一对象和由第二材料制成的第二对象，所述方法包括：针对至少两个辐射能级，获得与所述货物的检查图像相关联的图像数据；针对所述至少两个辐射能级，获得与所述第一材料和所述第二材料中的至少一者相对于参考材料的质量当量相关联的当量数据；基于所述图像数据和所述当量数据获得观测数据；以及基于所获得的观测数据来确定所述第一材料和所述第二材料中的至少一者。
材料确定