专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于真空腔室中样品形成和微观分析的方法和设备-CN200510109823.9无效
  • K·艾坦;S·德罗 - 应用材料以色列公司
  • 2005-07-14 - 2006-06-07 - G01N1/28
  • 公开了用于形成物体的样品、从物体提取样品以及在真空腔室中对所述样品进行包括表面分析和电子透明度分析的微观分析的方法和装置。在一些实施例中,提供一种成像提取样品的物体横截表面的方法。可选择地,在真空腔室中重复地变薄和成像样品。在一些实施例中,样品位于具有可选择缝隙的样品支持上。可选择地,样品位于样品支持的表面之上,以使物体横截表面基本上平行于样品支持的表面。一旦装配于样品支持之上,在真空腔室中对样品进行微观分析或装载于装载位置。在一些实施例中,利用基本上垂直地入射至物体横截表面的电子束成像样品。
  • 用于空腔样品形成微观分析方法设备
  • [发明专利]真空室中样品形成和微量分析的方法和装置-CN200510113299.2无效
  • K·艾坦;S·德罗 - 应用材料以色列公司
  • 2005-07-14 - 2006-05-03 - G01N23/04
  • 公开了在真空室中形成目标物样品、从该目标物提取样品和对该样品进行微量分析的方法和设备,该微量分析包括表面分析和电子透明度分析。在一些实施例中,提供了一种用于对提取的样品的目标横截面成像的方法。可选择地,在该真空室内反复薄化和成像该样品。在一些实施例中,该样品位于包括可选择的孔的样品支撑件上。可选择地,该样品位于该样品支撑件的表面上以使得该目标横截面基本上平行于样品支撑件表面。一旦安装在样品支撑件上,就或在该真空室中对该样品进行微量分析,或将其装载到装载站上。在一些实施例中,通过基本上垂直地入射到目标横截面的电子束来对该样品成像。
  • 真空样品形成微量分析方法装置

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