专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]高折射率材料上的类布拉格光栅-CN201880094745.5有效
  • M·E·科尔伯恩;N·R·莫汗蒂 - 元平台技术有限公司
  • 2018-07-27 - 2023-07-18 - G02B5/126
  • 公开了用于制造倾斜结构的技术。在一个实施例中,一种用于在材料层上制造倾斜结构的方法包括:在材料层上形成掩模层;以及使用离子束和掩模层,以大于零的倾斜角,将离子注入到材料层的多个区域中。相对于材料层的表面法线测量倾斜角。将离子注入到材料层的多个区域中改变了材料层的多个区域的折射率或蚀刻速率。在一些实施例中,方法还包括:使用蚀刻剂来湿法蚀刻材料层,以去除材料层的多个区域中的材料。在一些实施例中,方法包括:通过在进料气体中使用反应性蚀刻剂的干法蚀刻过程,与注入同时或在注入后蚀刻改性的材料。
  • 折射率材料布拉格光栅
  • [发明专利]两次曝光一条线路间距分离方法-CN201010269392.3有效
  • S·D·伯恩斯;M·E·科尔伯恩;S·霍姆斯 - 国际商业机器公司
  • 2010-08-31 - 2011-04-06 - H01L21/311
  • 本发明涉及两次曝光一条线路间距分离方法。一种集成电路被形成为具有这样的结构,该结构紧密邻近且彼此间的间隔比该结构的横向尺寸更小,例如用于制造到以通过暗场分离间距技术实现的最小光刻可分辨尺寸形成的电子元件的接触。通过使用酸敏硬掩模材料和经由抗蚀剂中的构图的孔径而接触硬掩模的区域的酸性上覆层,完全在光刻线路内执行对硬掩模的蚀刻,从而支持用于分离间距方法的可接受的覆盖精度和工艺效率以及吞吐量,该分离间距方法需要为多个依次施加并构图的抗蚀剂层中的每一个进行对硬掩模的蚀刻。硬掩模的接触区域被活化,以通过烘烤酸性上覆层而进行显影。
  • 两次曝光一条线路间距分离方法

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