“H·比尔克”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果10个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]用于组织待处理的洗涤物的方法和用于组织洗涤物的系统-CN201910039039.7有效
发明人： H·比尔克;S·菲利普;W·施米滕多夫 -专利权人： BSH家用电器有限公司
申请日： 2019-01-16 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： D06F33/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于组织待处理的洗涤物2的方法，洗涤物设有标志6，包括步骤：提供待处理的洗涤物2的存放容器1，配有标志6的读取仪3，当待处理的洗涤物2被置入存放容器1中时，读取仪设置读取标志6；将待处理的洗涤物2置入存放容器1中，读取仪3根据洗涤物2的标志6记录被置入存放容器1中的洗涤物2；制成在置入之后存在于存放容器1中的洗涤物2的清单，给每种洗涤物2分派对于处理重要的特性；对清单在从其中取出用于至少一个处理程序的洗涤物批次方面进行分析评定；在显示设备4上显示分析评定的结果。本发明涉及一种用于组织待处理的洗涤物2的系统8，洗涤物设有标志6，系统包括存放容器1、读取仪3和显示设备4。
用于组织处理洗涤方法系统

[发明专利]从辊机架中正面取出辊体的载运装置和方法以及具有可从正面取出的辊体的辊机架-CN201780013018.7有效
发明人： P·瑞斯;H·比尔克;O·施耐德;C·布兰德利;S·韦尔斯 -专利权人：布勒股份公司
申请日： 2017-01-27 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： B02C4/02 文献下载
摘要：用于从辊机架中正面取出辊体的载运装置(1)，包括主支架(2)和用于辊体的容置部(3)，该容置部能从导入位置(E)转入支撑位置(S)，其中该容置部(3)具有在所述支撑位置(S)至少部分地包围所述辊体的轮廓，并且其中该载运装置(1)能够在所述容置部(3)处于所述导入位置(E)的情况下被推入到所述辊体的下方，并且该辊体用处于该支撑位置(S)的该容置部(3)来承载。
机架正面取出载运装置方法以及具有

[发明专利]牙科陶瓷件制造装置-CN201580028013.2有效
发明人： H·比尔克;M·施皮格尔;O·福格特 -专利权人：伊沃克拉尔维瓦登特股份公司
申请日： 2015-05-22 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： A61C5/77 文献下载
摘要：本发明涉及一种牙科陶瓷件制造装置，具有用于提供用于制造牙科陶瓷件的压制空腔的CAD/CAM装置，其中所述牙科陶瓷件制造装置的CAD装置基于扫描数据确定要制造的牙科陶瓷件的形状，而其中所述牙科陶瓷件制造装置的CAM装置制造阳模，基于所述阳模通过消失模(马弗窑)形成模具空腔。所述CAM装置还确定不同陶瓷类型、即陶瓷的种类之间的分布和过渡，所述陶瓷类型至少在一个参数方面在材料、外观、强度或类似特性上不同，其中用于设置分布和过渡的CAM装置根据至少一个所述参数确定马弗窑芯与用于制造牙科陶瓷件的压制空腔之间的供料通道的位置和尺寸。
牙科陶瓷制造装置

[发明专利]牙科用炉-CN201480004294.3有效
发明人： R·格吕嫩菲尔德;P·凯特内尔;H·比尔克 -专利权人：伊沃克拉尔维瓦登特股份公司
申请日： 2014-01-13 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： A61C13/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种牙科用炉，特别是烧制炉或压制炉，用于烧制或压制牙体修复件，所述牙体修复件必要时在预热炉中预热之后能容纳在所述牙科用炉中，并且能置于底座上，特别是底座中央，其中牙科用炉具有烧制腔，所述烧制腔的直径大于要烧制的最大牙体修复件，特别是为要烧制的最大牙体修复件的至少两倍，所述牙科用炉具有在牙科用炉(10)上或用于牙科用炉(10)的控制装置和操作单元，其中通过操作单元(26)可按单位调整要烧制或要压制的牙体修复件的尺寸和/或重量和/或数目。
牙科烧制牙体修复压制操作单元烧制腔修复件底座中央控制装置烧制炉预热炉预热炉中底座容纳

[发明专利]用于校正共聚焦扫描显微镜中的图像失真的方法-CN201110449864.8有效
发明人： H·比尔克 -专利权人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请日： 2011-12-29 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G02B21/36 文献下载
摘要：为了确定用于操作共聚焦扫描显微镜(20)的扫描单元(28)的扫描坐标值(φn，θn)，借助于笛卡尔图像坐标值(Xn，Yn)到球面坐标系统的坐标转换，根据样本(32)的要创建的图像(60)的像点的笛卡尔图像坐标(Xn，Yn)确定球面扫描坐标值(φn，θn)。根据该球面扫描坐标值(φn，θn)来操作该扫描单元(28)。
用于校正聚焦扫描显微镜中的图像失真方法

[发明专利]声光系统及使用该声光系统的显微镜和方法-CN201180039149.5有效
发明人： B·威兹高斯基;H·比尔克;V·塞弗里德 -专利权人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请日： 2011-06-09 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G02F1/11 文献下载
摘要：一种声光系统，被描述为包括至少一个具有至少一个连接至晶体的换能器的声光元件，用于生成至少一个声信号以驱动声光元件改变传输通过该声光元件的光的驱动单元，且包括至少一个数字数据处理单元、至少一个将数字合成信号转换为初期模拟驱动信号的数-模转换器以及将初期模拟驱动信号放大成为所述模拟电子驱动信号的放大器。进一步地，描述了操作该声光元件的显微镜和方法。可实现诸如灵活性、实时补偿非线性效应、以及减少电子器件的数目、尺寸、成本及能耗的多种目的。
声光系统使用显微镜方法

[发明专利]用于探测光的装置和方法-CN201210240807.3有效
发明人： H·比尔克;V·塞弗里德 -专利权人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请日： 2012-07-11 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：用于探测光的装置，用在显微镜、光谱仪或照相机中，包括至少一个硅光电倍增管（SiPM），其由多个单光子雪崩二极管（SPADs）的阵列组成，该阵列的面积大于入射光的面积，其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。
用于探测装置方法

[发明专利]扫描显微镜和用于光学扫描一个或多个样本的方法-CN201180009191.2有效
发明人： B·威兹高斯盖;H·比尔克;V·塞弗里德 -专利权人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请日： 2011-02-11 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及扫描显微镜形式的装置，用于显微镜的结构单元形式的装置以及用于光学扫描一个或多个样本的方法和装置。扫描显微镜形式的装置具有发射照明光束（32）的光源（42）。聚焦光学系统（24）将所述照明光束（32）聚焦到样本（36）的待检查区域上。致动器装置根据预定扫描模型垂直于照明光束（32）的中轴和/或相对于包括聚焦光学系统（24）的结构单元（20）的外壳移动所述聚焦光学系统（24）。
扫描显微镜用于光学一个样本方法

[发明专利]用于扫描显微成像样本的方法和装置-CN201210006360.3有效
发明人： H·比尔克;B·威兹高斯盖;H·尼森 -专利权人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司
申请日： 2012-01-10 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施，在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施，以依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。
用于扫描显微成像样本方法装置

[发明专利]用于探测光束的光子的设备-CN200480023219.8有效
发明人： H·比尔克;R·施托尔茨;V·塞弗里德 -专利权人：莱卡微系统CMS有限责任公司
申请日： 2004-04-02 - 公布日： 2006-09-20 - 主分类号： G02B21/06 文献下载
摘要：一种用于探测从空间上受限的源(2)发出的光束(1)的光子的设备，该设备尤其是用于应用在荧光显微镜中，该设备包括检测装置，为了提高能够由该检测装置处理的最大计数速率，其特征在于，所述检测装置包括至少两个检测器(7)，并且在所述光束(1)的光路中设置有元件(3)，借助于该元件(3)能够这样分解所述光束(1)，以致所述光子出于探测目的而被分配到所述检测器(7)上。
用于探测光束光子设备

1
共 10 条