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[发明专利]用于探测电离辐射的探测器和方法-CN201580068831.5有效
发明人： E·勒斯尔;C·赫尔曼;R·斯特德曼布克;K·J·恩格尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-12-11 - 公布日： 2019-11-01 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于探测电离辐射的探测器(22’)，包括：直接转换半导体层(36)，所述直接转换半导体层用于响应于入射电离辐射来生成载荷子；以及对应于像素的多个电极(34)，所述多个电极用于记录所述载荷子且生成对应于所记录的载荷子的信号；其中，所述多个电极(34)中的一电极被构造成与至少两个相邻电极二维地交织，以通过所述中心电极并通过至少一个相邻电极来记录所述载荷子。本发明还涉及一种探测方法和一种成像设备。
用于探测电离辐射探测器方法

[发明专利]电子密度图像的联合重建-CN201480053011.4有效
发明人： T·克勒;B·J·布伦德尔;E·勒斯尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-08-29 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：一种用于重建对象PAT中的电子密度的图像的方法和相关系统(IMA)。X射线辐射成像器被用于将所述对象PAT暴露于辐射以接收投影数据。重建方法将来自两个通道的投影数据进行组合，即将基于康普顿散射的衰减数据p_C和相移数据进行组合。
电子密度图像联合重建

[发明专利]X射线探测器、成像装置和校准方法-CN201580008130.2有效
发明人： E·勒斯尔;H·德尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-12-09 - 公布日： 2019-09-03 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线探测器，所述X射线探测器包括直接转换半导体层(60)，所述直接转换半导体层具有多个像素，所述多个像素用于将入射辐射转换成具有所述半导体层的带隙能量特性的电测量信号，其中，所述入射辐射为由X射线源(2)发射的X射线辐射或者由至少一个光源(30、33)发射的光。另外，评估单元(67)被提供用于根据当来自所述至少一个光源的具有第一强度的光被耦合到所述半导体层中时每像素或每像素组所生成的第一电测量信号以及当来自所述至少一个光源的具有第二强度的光被耦合到所述半导体层中时每像素或每像素组所生成的第二电测量信号来计算每像素或每像素组的评估信号，其中，所述评估单元被配置为检测所述第一电测量信号和所述第二电测量信号中每像素或每像素组的噪声峰值，并且被配置为根据检测到的噪声峰值来确定每像素或每像素组的偏置和增益。探测单元(69)被提供用于根据当X射线辐射入射到所述半导体层上时所生成的电测量信号来确定探测信号，并且校准单元(68)被提供用于基于所述评估信号来校准所述探测单元。
射线探测器成像装置校准方法

[发明专利]具有可移动光栅的微分相位衬度成像装置-CN201480003086.1有效
发明人： H-A·维施曼;E·勒斯尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-09-16 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：一种X射线微分相位衬度成像装置(10)包括：用于产生X射线束的X射线源(20)；用于从非相干X射线源(20)产生相干X射线束的源光栅(G0)；准直器(22)，用于将相干X射线束分离成多个扇形X射线束(28)以穿过对象(14)；用于产生干涉图案的相位光栅(G1)和用于根据所述干涉图案产生摩尔图案的布置在所述对象(14)后方的吸光器光栅(G2)；以及条纹检测器(24)，用于检测由所述相位光栅(G1)和所述吸光器光栅(G2)根据穿过所述对象(14)的所述扇形X射线束(28)产生的所述摩尔图案。所述X射线源(20)、源光栅(G0)、准直器(22)、相位光栅(G1)、吸光器光栅(G2)和条纹检测器(24)固定到公用的机架(12)，且可相对于所述对象(14)移动，使得可检测到来自所述机架的不同位置的大量干涉图案，以重构所述对象(14)的微分相位图像。以可供选择的方式，至少一个光栅(G0、G1、G2)包括光栅条纹(34)组(36)和透光区(38)。至少一个光栅(G0、G1、G2)可相对于所述机架(12)移动，使得在所述光栅(G1、G2)的第一位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34)，且在所述光栅(G1、G2)的第二位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述透光区(38)。
光栅扇形X射线束干涉图案相位光栅吸光器穿过检测器成像装置光栅条纹摩尔图案微分相位透光区源光栅准直器条纹相干衬度非相干X射线源微分相位图像第二位置第一位置公用的可检测可移动移动重构检测

[发明专利]投影数据采集装置和对象支撑设备-CN201780076034.0在审
发明人： E·勒斯尔;T·克勒 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2017-12-07 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种在用于采集对象(3)的投影数据的投影数据采集装置(2)中使用的对象支撑设备(1)。所述对象支撑设备包括：支撑部件(4)，其提供支撑表面(5)，所述支撑部件用于在采集所述投影数据的同时支撑所述对象；衍射光栅(6)，其用于使X射线发生衍射；以及移动单元(7、8)，其用于使所述支撑部件和所述衍射光栅相对于彼此移动。这种相对移动能够允许所述支撑部件的移动，使得所述对象被移动通过X射线(16)以用于确定所述对象的不同部分的投影数据，同时所述衍射光栅仍然能够被所述X射线穿过。这些投影数据能够用于生成相对较大的相衬投影图像和/或暗场投影图像。
投影数据支撑部件对象支撑衍射光栅投影数据采集投影图像移动采集对象相对移动移动单元支撑表面暗场衍射采集穿过支撑

[发明专利]光子计数探测器校准-CN201480025725.4有效
发明人： C·O·斯基拉;A·特伦;H·德尔;E·勒斯尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-05-10 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：一种方法包括通过组合光子计数探测器的启发式校准和光子计数探测器的分析式校准来确定针对校准谱成像系统的光子计数探测器的校准因子，以及基于所述启发式校准和所述分析式校准的组合来生成光子计数校准因子的集合。当所述光子计数校准因子被应用于来自对象或物体的谱CT扫描的光子计数探测器的所述测得的能量分辨数据时，减轻由对所述谱CT扫描的辐射射束进行滤波的辐射强度轮廓整形器导致的谱失真。
光子计数探测器校准

[发明专利]用于扫描差分相位衬度系统的相位恢复-CN201480069101.2有效
发明人： E·勒斯尔;H·A·帕斯汀克;T·克勒;H·德尔;U·范斯特文达勒;G·马滕斯 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-12-03 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：一种相位衬度成像装置(MA)和有关的图像处理方法。所述成像装置包括：可移动臂(AR)，其承载探测器(D)；以及，一个或多个干涉仪光栅(G0、G1、G2)。所述成像装置包括硬化器(RGD)，其用于控制至少所述臂(AR)或用于所述光栅(G0、G1、G2)的安装物(GM)的硬度。这允许控制在读出结果的序列中探测到的莫尔图案的漂移。通过使用所述图像处理方法，如此控制的莫尔图案的相位能够被用于校准所述成像装置。
用于扫描相位系统恢复

[发明专利]用于X射线产生装置的调整布置结构-CN201580053962.6有效
发明人： R·K·O·贝林;E·勒斯尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-09-30 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： H01J35/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于X射线产生装置的调整布置结构、调整方法、用于控制这种装置的计算机程序单元以及已存储有这种计算机程序单元的计算机可读介质。调整布置结构包括阴极、阳极(2)和调整器件，例如调整装置。阴极被配置成提供电子束(15)。阳极(2)被配置成在电子束(15)的撞击下旋转并且通过被布置在阳极的圆周周围的缝隙(21)分段。调整器件被配置成，当电子束(15)正在撞击阳极的旋转中的缝隙(21)时，对电子束(15)进行调整。
用于射线产生装置调整布置结构

[发明专利]狭缝扫描相位衬度成像中的校正-CN201480036955.0有效
发明人： E·勒斯尔;G·马滕斯 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-06-27 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及X射线相位衬度成像中的校准。为了移除由于个别增益因子引起的干扰，提供一种用于狭缝扫描X射线相位衬度成像装置的校准滤波器光栅(10)，其包括：第一多个滤波器段(11)，所述第一多个滤波器段包括滤波器材料(12)；以及，第二多个开口段(13)。所述滤波器段和所述开口段被交替布置为滤波器样式(15)。所述滤波器材料由具有结构元件(14)的材料制成，所述结构元件(14)包括微米范围的结构参数。所述滤波器光栅被可移动地布置在相位衬度成像装置的狭缝扫描系统中的干涉仪单元的X射线源光栅(54)与分析器光栅(60)之间。所述狭缝扫描系统被提供具有预准直器(55)，所述预准直器包括多个条棒(57)和狭缝(59)。所述滤波器样式与预准直器样式(61)对齐。
狭缝扫描相位成像中的校正

[发明专利]具有脉冲整形器的探测器-CN201380065205.1有效
发明人： E·勒斯尔;R·斯特德曼布克 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2013-12-12 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01T1/17 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于探测入射辐射的光子的探测器单元(100)。所述探测器单元(100)包括信号处理电路(40、50、60)，所述信号处理电路用于生成取决于当前探测到的光子(X)的能量和至少一个处理参数(R_f)的信号(V₀)。此外，所述探测器单元包括通量估计器(70)，所述通量估计器用于估计光子的通量并且用于基于估计出的所述通量来调节所述处理参数(R_f)。所述通量估计器(70)接收来自处理阶段的输入(V₁)，根据所述处理阶段的输入来估计光子的通量，所述处理阶段独立于所述信号处理电路(40、50、60)的输出。在优选实施例中，所述信号处理电路是整形器(40)或包括整形器(40)。
通量信号处理电路光子探测器单元处理阶段估计器处理参数整形器探测脉冲整形器入射辐射探测器优选输出

[发明专利]通过使用相衬CT的单色衰减对比图像生成-CN201480042933.5有效
发明人： T·克勒;E·勒斯尔;D·谢弗 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2014-07-23 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于X射线相衬成像的方法和装置。所述方法包括以下步骤：根据所测量的相位梯度信息和总衰减信息来计算电子密度；根据所述电子密度来估计康普顿散射对所述总衰减的贡献p_c；根据所述总衰减和所述贡献p_c来估计光电吸收对所述总衰减的贡献p_p；将值p_c和p_p用于重建康普顿图像和光电图像；通过这两幅图像的线性组合来获得在期望能量的单色图像。
衰减方法和装置康普顿散射单色图像对比图像光电图像光电吸收两幅图像期望能量衰减信息线性组合相位梯度相衬CT 测量图像重建

[发明专利]成像装置和方法-CN201580002726.1有效
发明人： T·克勒;R·普罗克绍;B·J·布伦德尔;E·勒斯尔 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-09-22 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种成像装置和对应的成像方法。为了避免探测单元中的堆积效应的缺点，提出了一种成像装置，其包括：辐射源(2)，其用于将辐射从聚焦区(20)发射通过成像区域(5)；探测单元(6)，其用于探测来自所述成像区域(5)的辐射，所述探测单元包括防散射光栅(62)和探测器(61)；机架(1)，所述辐射源(2)和所述探测单元(6)被安装到所述机架，并且所述机架允许所述辐射源(2)和所述探测单元(6)围绕所述成像区域旋转；以及控制器(9)，其用于控制所述探测单元(6)以在围绕所述成像区域旋转期间在多个投影位置处探测辐射，并且用于操纵所述辐射源(2)和/或所述探测单元(6)的至少部分在第一投影位置(80)处的位置、设定和/或取向，使得与表示剩余投影位置的第二投影位置(80)相比，在所述第一投影位置处入射在所述探测器(61)上的辐射在更大程度上被所述防散射光栅(62)衰减。
成像装置方法

[发明专利]用于X射线成像设备的光栅设备-CN201580041982.1有效
发明人： E·勒斯尔;T·克勒;H-A·维施曼 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-07-20 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：本发明涉及用于X射线成像设备的光栅设备(1)、干涉仪单元(2)、X射线成像系统、X射线成像方法以及用于控制这样的设备的计算机程序单元和存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。用于X射线成像设备的光栅设备(1)包括光栅布置(10)和致动布置。光栅布置(10)包括多个光栅分段(11)。所述致动布置被配置为在第一位置与第二位置之间利用至少旋转部件来移动所述多个光栅分段(11)。在所述第一位置中，所述光栅分段(11)被布置在X射线射束(30)的路径中，使得所述光栅分段(11)影响所述X射线射束(30)的部分。在所述第二位置中，所述光栅分段(11)被布置在X射线射束(30)的所述路径的所述部分外部，使得所述X射线射束(30)的所述部分不受所述光栅分段(11)影响。
用于射线成像设备光栅

[发明专利]用于倾斜角度X射线辐射的X射线探测器设备-CN201580047375.6有效
发明人： E·勒斯尔;T·克勒 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G01T1/24 文献下载
摘要：本发明涉及用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测所述X射线辐射的X射线探测器设备(10)、X射线成像系统(1)、X射线成像方法、和用于控制这样的设备或系统以执行这样的方法的计算机程序单元、以及存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。所述X射线探测器设备(10)包括阴极表面(11)和阳极表面(12)。所述阴极表面(11)和所述阳极表面(12)被分离层(13)分开，以允许响应于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面(11)与所述阳极表面之间(12)的电荷传输(T)。所述阳极表面(12)被分割为阳极像素(121)并且所述阴极表面(11)被分割为阴极像素(111)。所述阴极像素(111)中的至少一个在相对于所述阴极表面(11)倾斜的耦合方向(C)上被分配到所述阳极像素(121)中的至少一个。所述阴极像素(111)中的至少一个被配置为相对于邻近阴极像素处于电压偏置，并且所述阳极像素(121)中的至少一个被配置为相对于邻近阳极像素(121)处于电压偏置。所述电压偏置被配置为使电荷传输(T)汇聚于平行于所述耦合方向(C)的方向上。
用于倾斜角度射线辐射探测器设备

[发明专利]在微分相位对比成像中对齐源光栅到相位光栅距离以用于多阶相位调谐-CN201380043436.2有效
发明人： G·马滕斯;H·德尔;T·D·伊斯特尔;E·勒斯尔;U·范斯特文达勒 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2013-08-20 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及处理用于微分相位对比成像的X射线成像系统中的错位。为了提供对用于微分相位对比成像系统中的制造和维护的预调谐和调整要求的降低，提供了一种用于微分相位对比成像的X射线成像系统(10)，其包括微分相位对比设置(12)，所述微分相位对比设置具有X射线源(14)和X射线探测器(16)、包括源光栅(20)、相位光栅(22)和分析器光栅(24)的光栅布置(18)，其中，所述源光栅被布置在所述X射线源与所述相位光栅之间，并且所述分析器光栅被布置在所述相位光栅与所述探测器之间。另外，提供了用于在检查中的对象与所述光栅中的至少一个之间的相对移动的移动布置、以及处理单元(32)和用于平移所述源光栅的平移布置(34)。所述相位光栅、所述分析器光栅和所述探测器被提供作为刚性干涉仪单元(36)，在所述刚性干涉仪单元中，所述相位光栅和所述分析器光栅平行于彼此被安装。使所述源光栅相对于所述干涉仪单元错位，使得在所述探测器的平面中能检测到莫尔条纹。所述处理单元被配置为在X射线辐射后由所述探测器提供的信号中检测莫尔图样。所述处理单元还被配置为计算平移信号(38)，所述平移信号用于平移所述源光栅以实现预定的莫尔图样。所述平移布置被配置为基于所述平移信号的值至少在X射线投影方向(30)上调整所述源光栅的定位。
源光栅微分相位相位光栅分析器光栅平移对比成像探测器干涉仪单元处理单元平移信号光栅图样配置错位调谐莫尔条纹相对移动相位调谐对齐检测多阶平行移动制造检查维护