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[发明专利]质谱仪-CN201610803953.0有效
发明人： L·洛特曼恩;A·马卡罗夫;H·J·舒鲁特;C·韦厄 -专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2016-09-06 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：一种元素质谱仪使用滤质器从接收自离子源的离子选择离子，且发射所述选定离子。反应或碰撞池接收所述所发射的离子，且使这些离子与气体反应或碰撞以借此提供产物离子。质量分析仪接收所述产物离子，对其进行分析，且基于所述经分析离子的检测提供至少一个输出。所述元素质谱仪经操作以从所述质量分析仪提供测量包含所要质荷比M的质荷比的第一分析范围内的离子的第一输出，从所述质量分析仪提供测量包含比所述所要质荷比低至少0.95原子质量单位的质荷比(M‑i)的质荷比的第二分析范围内的离子的第二输出，i≥0.95，且基于所述第二输出校正所述第一输出。
质谱仪

[发明专利]金属陶瓷基底以及用于制造这样的金属陶瓷基底的方法-CN201380003683.X有效
发明人： A·迈尔;C·韦厄;J·舒尔茨-哈德;K·施密特 -专利权人：库拉米克电子学有限公司
申请日： 2013-02-13 - 公布日： 2014-06-25 - 主分类号： C04B37/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种金属陶瓷基底以及其制造方法，所述金属陶瓷基底具有至少一个陶瓷层(2)，所述陶瓷层在第一表面侧(2a)设有至少一个第一金属喷镀部(3)而在与第一表面侧(2a)对置的第二表面侧(2b)设有一个第二金属喷镀部(4)，其中第一金属喷镀部(3)通过由铜或一种铜合金制成的薄膜或层形成并且借助“直接-铜-键合”方法与陶瓷层(2)的第一表面侧(2a)连接。特别有利的是，第二金属喷镀部(4)通过由铝或一种铝合金制成的层形成。
金属陶瓷基底以及用于制造这样方法