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[发明专利]一种基于光学检测的图像分割方法及装置-CN202310512134.0在审
发明人：穆欣炬;杨彦琳;周旭;魏新和;马中生;陈俊秀 -专利权人：义乌清越光电技术研究院有限公司;上欧科技（湖州）有限公司
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学检测的图像分割方法及装置。所述方法包括：获取目标图像的参考分割区域；根据所述参考分割区域的边界在所述参考分割区域内截取至少一个子检测区域，其中，所述子检测区域至少覆盖一个所述目标检测区域相邻边界的相交位置；在所述子检测区域内进行角点检测，并根据所述相邻边界的相交位置在所述参考检测区域的相对位置确定目标角点；根据所述目标角点划分目标分割区域。本发明提供的技术方案，提高了测试效率，降低了识别误差。
一种基于光学检测图像分割方法装置

[发明专利]一种获得高功率、高均匀度、高准直、超窄带线光源的方法-CN202211741169.3在审
发明人：李青岩;龚海;魏新和;顾海鹏;杨彦琳;陈俊秀 -专利权人：浙江大学湖州研究院
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明公开了一种获得高功率、高均匀度、高准直、超窄带线光源的方法，包括以下步骤：系统光源输出一个平行的激光光束；光束入射至鲍威尔棱镜，实现在垂直方向上扩展；扩展后的光束入射至柱面镜，对扩展后的光束进行准直，使得输出光束为平行光；输出的长条平行光出射至另一长焦柱面镜，将长条平行光进行汇聚；汇聚光束出射至短焦柱面镜，将出射光束校正为平行光束，从而获得高功率、高均匀度、高准直、超窄带的线光源；在不同位置放置探测器，查看在系统不同位置处的出射光束质量和照。本发明利用了鲍威尔棱镜和不同焦距的非球面平凸柱面镜合理的组合，得到了一束高功率、高均匀度、高准直、超窄带的线光源，可应用于高精度的光学元件以及芯片的检测。
一种获得功率均匀高准直窄带光源方法

[发明专利]一种无接触式检测大样品超微小缺陷的装置-CN202310028247.3在审
发明人：李青岩;龚海;魏新和;顾海鹏;杨彦琳;陈俊秀 -专利权人：浙江大学湖州研究院
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种无接触式检测大样品超微小缺陷的装置，包括一套高准直，高均匀度的线光发射系统和一套大视场高灵敏度的接收光学系统；线光发射系统包括依次设置的激光器、鲍威尔棱镜、平凸柱面镜，即激光出射后经过鲍威尔棱镜形成一束发散的线激光光源，然后经过平凸柱面镜进行准直得到高准直、高均匀度的线激光光源；大视场高灵敏度的接收光学系统包括一个高质量的接收物镜和阵列式光电探测器。本发明适用于大尺寸、存在um级的微小缺点的产品检测，实现无接触、快速、准确的自动化检测。
一种接触检测样品微小缺陷装置

[发明专利]一种大面元高亮度均匀照明方法-CN202211732615.4在审
发明人：龚海;魏新和;李青岩;顾海鹏;杨彦琳;陈俊秀 -专利权人：浙江大学湖州研究院
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本发明公开一种大面元高亮度均匀照明结构及其均匀照明方法，该结构包括依次放置的白激光器，粗糙匀光板，扩束透镜，准直透镜，第一柱面镜，第二柱面镜，分光元件，样品，线扫成像镜头和线阵相机，扩束透镜和准直透镜共同构成一组伽利略系统，第一柱面镜和第二柱面镜组成光学透镜组；所述分光元件与所述白激光器发出的光束呈45°角。本发明中线扫同轴光源可作为机器视觉光源，用于极低曝光，高速运动物体的在线检测；在此情况下，可有效改善图像质量，提升图像分辨率。
一种大面亮度均匀照明方法

[发明专利]一种线扫光学检测结构及同轴线扫光源的主光轴校准方法-CN202310028250.5在审
发明人： 魏新和;龚海;李青岩;顾海鹏;杨彦琳;陈俊秀 -专利权人：浙江大学湖州研究院
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种线扫光学检测结构及同轴线扫光源的主光轴校准方法，该线扫光学检测结构包括线阵相机，光学镜头，同轴线扫光源和电动直线位移台，线阵相机、光学镜头和阶梯状样品调节至同轴且阶梯状样品处于光学镜头的前焦面上；同轴线扫光源固定于电动直线位移台上，并且移动电动直线位移台改变同轴线扫光源位置进行成像；量化成像所得图片的伪影宽度，并进一步得到光源发散角的正弦值；找到正弦值最小的地方，即为光源发散角最小的位置，该处就是同轴线扫光源的主轴。本发明可用于提高线扫光学检测系统的检测精度，有效改善图像质量，提升图像分辨率，避免产生伪影。
一种光学检测结构同轴线光源主光轴校准方法

[实用新型]一种显示器阵列基板缺陷检测系统-CN202222925805.X有效
发明人：龚海;王楚天;杨彦琳;魏新和;顾海鹏;安亚通;陈俊秀 -专利权人：浙江大学湖州研究院
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本实用新型公开一种显示器阵列基板缺陷检测系统，包括依次布置在待检测显示器阵列基板上的同轴照明系统以及成像系统，同轴照明系统形成的照明光路和成像系统形成的成像光路同轴设计。本实用新型能够快速无损检测显示器阵列基板缺陷，且结构简单，易实施。
一种显示器阵列缺陷检测系统

[实用新型]基于波前传感的虚拟现实显示镜片缺陷检测系统-CN202220472422.9有效
发明人：龚海;安亚通;王楚天;杨彦琳;魏新和;顾海鹏 -专利权人：苏州波渺微测科技有限公司
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于波前传感的虚拟现实显示镜片缺陷检测系统。包括光源模块、镜片模块以及传感器模块；所述光源模块包括四轴运动平台以及设置在四轴运动平台内的激光二极管、准直镜以及可变光阑，激光二极管发出波长为520nm的绿光点状激光，绿光点状激光经过准直镜后变成平面波，可变光阑用于调节光束的光斑直径；镜片模块包括手动位姿调整台、设置在手动位姿调整台上的U型夹具以及设置在U型夹具中的镜片；传感器模块包括两轴运动平台以及设置在两轴运动平台内的第二透镜、第三透镜以及哈特曼‑夏克波前相差传感器，第二透镜和第三透镜的焦距相同。本实用新型提供的方案可模拟实际配戴状态测量角膜前表面处的配戴波前像差和配戴焦度。
基于传感虚拟现实显示镜片缺陷检测系统

[发明专利]基于波前传感的虚拟现实显示镜片缺陷检测系统-CN202210211395.4在审
发明人：龚海;安亚通;王楚天;杨彦琳;魏新和;顾海鹏 -专利权人：苏州波渺微测科技有限公司
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于波前传感的虚拟现实显示镜片缺陷检测系统。包括光源模块、镜片模块以及传感器模块；所述光源模块包括四轴运动平台以及设置在在四轴运动平台内的激光二极管、准直镜以及可变光阑，激光二极管发出波长为520nm的绿光点状激光，绿光点状激光经过准直镜后变成平面波，可变光阑用于调节光束的光斑直径；镜片模块包括手动位姿调整台、设置在手动位姿调整台上的U型夹具以及设置在U型夹具中的镜片；传感器模块包括两轴运动平台以及设置在两轴运动平台内的第二透镜、第三透镜以及哈特曼‑夏克波前相差传感器，第二透镜和第三透镜的焦距相同。本发明提供的方案可模拟实际配戴状态测量角膜前表面处的配戴波前像差和配戴焦度。
基于传感虚拟现实显示镜片缺陷检测系统

[发明专利]一种利用数字微反镜进行光场采样的成像设备及方法-CN202210211402.0在审
发明人：龚海;安亚通;王楚天;杨彦琳;魏新和;顾海鹏 -专利权人：苏州波渺微测科技有限公司
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用数字微反镜进行光场采样的成像设备及方法。方案是：包括准直光源，用于产生准直光；数字微反镜，用于产生相干光，即将发射到被测物体表面，或透射穿过被测物体的准直光反射到相机；测量相机，配有镜头，用于采集数字微反镜反射后的相干光图像；个人电脑，用于控制数字微反镜以及测量相机传递的数据。方案控制数字微反镜，可控制光场中光线路径。每次测量过程中通过控制数字微反镜，只让两路光线抵达测量相机，通过测量两路光线的干涉图像，可确定光场中这两个点的相差，依次对不同两点进行测量，进而可获得整个光场信息。优点是测量基于数字微反镜进行光场采样测量，不需要微透镜阵列或者光栅，可用于波前测量和物体三维形貌测量。
一种利用数字微反镜进行采样成像设备方法

[发明专利]基于波前传感的人工晶体检测系统-CN202210211407.3在审
发明人：龚海;安亚通;王楚天;杨彦琳;魏新和;顾海鹏 -专利权人：苏州波渺微测科技有限公司
申请日： 2022-03-04 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于波前传感的人工晶体检测系统。本发明的技术方案是：包括平行光源、滤波片、微透镜阵列、辅助透镜以及模型眼模组；所述模型眼模组包括可变焦相机镜头、人工晶体组件以及用于接收光路图像的CCD；所述人工晶体组件包括容纳生理盐水的玻璃水槽、设置在玻璃水槽中的平移装置以及设置在平移装置上的人工晶体，所述平行光源为功率35瓦、亮度300流明、光斑尺寸33nm的平行白光管，所述滤波片为半波宽度5nm的窄带滤波片，滤过峰值波长分别为436.0、486.0、525.0、546.1、589.0、660.0、710.0nm，峰值透过率60％，所述微透镜阵列的焦距为15nm。本发明提供的方案能够测量不同人工晶体的球差、总高阶像差。
基于传感人工晶体检测系统

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