专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]编码孔径成像系统及方法-CN202280012638.X在审
  • 弗朗切斯科·保罗·达莱奥;马库斯·罗西;延斯·盖格尔 - 艾迈斯-欧司朗亚太私人有限公司
  • 2022-02-07 - 2023-09-29 - G02B30/10
  • 编码孔径成像系统及方法,一种用于对物体成像的光学系统,包括:空间编码装置,用于产生具有初始空间分布的空间编码光;编码孔径,限定掩模图案,掩模图案基于空间编码光的初始空间分布;以及图像传感器。光学系统被构造成在使用中使得空间编码装置将空间编码光引导至物体上,使得物体反射空间编码光的至少一部分,以形成反射光,反射光被引导穿过编码孔径,以形成空间解码光,空间解码光被引导至图像传感器上,以便在其上形成图像,并且图像传感器检测图像。与使用现有技术的编码孔径成像系统来实施的现有技术编码孔径成像技术相比,光学系统可被用于使物体成像,使得其消除或至少降低根据由图像传感器检测的光来重建物体的图像所需的图像处理的复杂度。
  • 编码孔径成像系统方法
  • [发明专利]小型化光学装置,诸如分光计和分光计模块,和其制造-CN201780064564.3有效
  • 马库斯·罗西;哈特穆特·鲁德曼;巴萨姆·哈拉 - 赫普塔冈微光有限公司
  • 2017-09-15 - 2022-02-01 - G01J3/02
  • 一种用于制造光学装置的方法包含:提供各自具有第一侧面的多个初始条,所述第一侧面被呈现第一光学部件布置;将所述初始条定位在一行中,其中其第一侧面面向所述初始条中的相邻初始条;固定所述初始条以获得条布置;通过以下步骤中的至少一个分段所述条布置获得棱镜条:实施多个切割,使得每个棱镜条包含所述初始条中的至少两个不同初始条的一部分,沿着切割线或通过产生切割面将所述条布置分离成区段,所述切割面与初始条方向成一角度;划分所述第一光学部件布置用于获得多个无源光学部件,其中每个棱镜条包含一或多个无源光学部件,所述一或多个无源光学部件各自包含第一反射面,所述第一反射面具有非平面形状;将棱镜条分段成零件。
  • 小型化光学装置诸如分光计模块制造
  • [发明专利]光电模块及其制造方法-CN201280006331.5有效
  • 哈特穆特·拉德曼;马库斯·罗西 - 赫普塔冈微光有限公司
  • 2012-07-10 - 2014-03-05 - H01L25/16
  • 用于制造光电模块(1)的方法包含:a)提供衬底晶片(PW),在所述衬底晶片上布置有多个检测构件(D);b)提供间隔晶片(SW);c)提供光学晶片(OW),所述光学晶片包含多个透明部分(t)和至少一个阻挡部分(b),所述多个透明部分对于通常可由所述检测构件检测的光透明,所述至少一个阻挡部分用于实质上衰减或阻挡通常可由所述检测构件检测的入射光;d)制备晶片堆叠(2),在所述晶片堆叠中,所述间隔晶片(SW)布置在所述衬底晶片(PW)与所述光学晶片(OW)之间,以使得所述检测构件(D)布置在所述衬底晶片与所述光学晶片之间。优选地,用于发射通常可由所述检测构件(D)检测的光的多个发射构件(E)布置在所述衬底晶片(PW)上,以使得多个相邻发射构件和检测构件存在于所述衬底晶片上。可通过将所述晶片堆叠(2)分隔成多个单独模块(1)来获得单个模块(1)。
  • 光电模块及其制造方法
  • [发明专利]光电模块及包含光电模块的装置-CN201310373358.4有效
  • 马库斯·罗西;维尔·凯图宁 - 赫普塔冈微光有限公司
  • 2012-12-18 - 2014-01-15 - G01S7/481
  • 光电模块(1)包含检测通道(30)和发射通道(20),所述检测通道(30)包含用于检测光的检测部件(D),所述发射通道(20)包含用于发射通常可由所述检测部件检测的光的发射部件(E)。其中,从所述发射通道发射光的辐射分布特征为非回转对称;及/或在所述检测通道中检测入射在所述检测通道上的光的敏感度分布特征为非回转对称;及/或用于从所述发射通道发射光的中心或主要发射方向和用于检测入射在所述检测通道上的光的中心或主要检测方向彼此不平行地对齐;及/或所述通道中的至少第一通道包含以下中的至少一个:e1)至少两个无源光学组件(52、52';53,53'),每一无源光学组件具有光轴(A2、A2';A3、A3'),其中所述组件经布置使得所述光轴不重合;e2)至少一个无源光学组件(52、52';53,53'),所述无源光学组件具有光轴,其中所述组件相对于分别包含在所述第一通道中的检测部件(D)和发射部件(E)布置,使得所述光轴不与包含在所述第一通道中的检测部件或发射部件的检测中心轴(c2)和发射中心轴(c3)分别重合;e3)至少一个无源光学组件(52、52';53,53'),所述无源光学组件组成非回转对称光束形成元件或所述元件的一部分;e4)至少一个无源光学组件(52、52';53,53'),所述无源光学组件经布置以实现光分别进入和离开第一通道的主要方向(m2、m3)或中心方向(c2、c3)在所述第一通道中不存在所述至少一个无源光学组件的情况下相对于光进入或离开第一通道的此方向成角。
  • 光电模块包含装置
  • [发明专利]光电模块及其制造方法与包含光电模块的电器及装置-CN201310373268.5有效
  • 哈特穆特·拉德曼;马库斯·罗西 - 赫普塔冈微光有限公司
  • 2012-07-10 - 2014-01-15 - G01D5/26
  • 用于制造光电模块(1)的方法包含:a)提供衬底晶片(PW),在所述衬底晶片上布置有多个检测构件(D);b)提供间隔晶片(SW);c)提供光学晶片(OW),所述光学晶片包含多个透明部分(t)和至少一个阻挡部分(b),所述多个透明部分对于通常可由所述检测构件检测的光透明,所述至少一个阻挡部分用于实质上衰减或阻挡通常可由所述检测构件检测的入射光;d)制备晶片堆叠(2),在所述晶片堆叠中,所述间隔晶片(SW)布置在所述衬底晶片(PW)与所述光学晶片(OW)之间,以使得所述检测构件(D)布置在所述衬底晶片与所述光学晶片之间。优选地,用于发射通常可由所述检测构件(D)检测的光的多个发射构件(E)布置在所述衬底晶片(PW)上,以使得多个相邻发射构件和检测构件存在于所述衬底晶片上。可通过将所述晶片堆叠(2)分隔成多个单独模块(1)来获得单个模块(1)。
  • 光电模块及其制造方法包含电器装置

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