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[发明专利]分体式校准靶标、具有该靶标的校准装置及其校准方法-CN201810563230.7有效
发明人：刘芳芳;任瑜;马建敏;张波;傅云霞;雷李华 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种分体式校准靶标，在利用激光跟踪仪对激光扫描仪的空间距离示值误差进行校准时与靶镜相配合作为测量靶标使用，包括：靶座；靶镜承托组件，具有锥柄、设置在锥柄上的连接件以及设置在连接件上并用于通过磁性吸附与靶镜相连接的靶镜座；以及靶球组件，具有球侧锥柄、设置在球侧锥柄上的三维调节机构以及设置在三维调节结构上的靶球，其中，锥柄、球侧锥柄均为莫氏锥柄，该莫氏锥柄具有相同的尺寸以及公差，且锥尖向下设置，靶座上设置有莫氏锥套，该莫氏锥套的锥尖向下，开口向上，莫氏锥套与锥柄以及球侧锥柄相匹配。本发明还提供了具有上述分体式校准靶标的校准装置以及利用该校准装置对激光扫描仪进行校准的方法。
体式校准靶标具有装置及其方法

[发明专利]一种用于检定两光栅平行性的装置-CN202310592305.5在审
发明人： 雷李华;张玉杰;沈瑶琼;刘丽琴;管钰晴;梁利杰;邹文哲;郭创为;傅云霞 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明为一种用于检定两光栅平行性的装置，包括同光轴布置的第一光栅、第二光栅、激光器、小孔光阑、半透半反棱镜、五角棱镜和观察屏，所述装置包括调节栅面平行和调节栅线平行两部分，利用第一光栅和第二光栅的镜面反射，通过调节第一光栅和第二光栅的偏摆角度，使照射在观察屏上的两束光斑在处于同一水平直线，实现两光栅栅面平行调整，利用第一光栅和第二光栅的衍射效应，通过调节第一光栅和第二光栅的绕水平方向旋转的旋转角度，使照射在观察屏上的两束光斑在处于同一竖直方向直线，实现两光栅栅线平行调整。本发明结构简单，原理易懂，便于操作实现。
一种用于检定光栅平行装置

[发明专利]背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置-CN202310592376.5在审
发明人： 雷李华;梁利杰;张玉杰;管钰晴;沈瑶琼;刘丽琴;邹文哲;郭创为;傅云霞 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明为一种背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置，包括调节两光栅栅面平行和调节两光栅栅线平行，采用的调节装置包括第一光栅A、第二光栅B、红光光源、接收屏、光栅安装板、小孔光阑、准直光源、分别设于光栅四个角的螺纹结构和用于光栅与光栅安装板连接安装的伸缩式卡槽旋转机构，通过调节分设于光栅安装板正反两面的第一光栅A和第二光栅B分别与同一水平准直光源垂直来实现两光栅的栅面平行调节，通过红光光源发射光线，由接收屏分次显示两光栅形成的衍射图样，并对两个或以上的衍射光斑分别标记后连线，调节第一光栅A使其标记连线与第二光栅B的标记连线平行，完成两光栅的栅线平行调节。
背对光栅相互平行调节方法装置

[发明专利]电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法-CN202211365264.8在审
发明人： 雷李华;曹程明;熊英凡;谢张宁;邓晓;程鑫彬;管钰晴;邹文哲;傅云霞 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;同济大学
申请日： 2022-11-03 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01Q40/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，基于原子光刻技术制备一维光栅标准样板，计算该一维光栅标准样板的光栅理论周期值D；将一维光栅标准样板静置于电子探针显微分析仪器的载物台设定时间，使测试状态保持稳定；待电子探针显微分析仪器聚焦清晰后，电子探针显微分析仪器扫描载物台上的一维光栅标准样板，对一维光栅标准样板的栅格间距进行图像采集和测量，得到光栅扫描距离测量值L,并记下此时的放大倍率，根据D和L计算获得该放大倍率下的校准因子K。本发明的电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，缩短了对仪器进行校准的溯源链长度，降低了量值传递过程的误差积累，提升了不同仪器之间的校准一致性，操作方便。
电子探针显微分析仪器参数误差校准方法

[发明专利]一种基于BP神经网络的手语翻译方法-CN202010243856.7有效
发明人：谢张宁;朱惠臣;孙晓光;吴俊杰;李智玮;傅云霞;雷李华;孔明;管钰晴;刘娜;王道档 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G06N3/063 文献下载
摘要：本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法，其特征在于：包括以下步骤：1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库；3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序，BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络；4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。
一种基于 bp 神经网络手语翻译方法

[发明专利]一种基于支持向量机的手语翻译方法-CN202010242973.1有效
发明人： 雷李华;傅云霞;朱惠臣;孙晓光;谢张宁;李智玮;刘娜;孔明;管钰晴;王道档 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2023-02-07 - 主分类号： G06V40/20 文献下载
摘要：本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
一种基于支持向量手语翻译方法

[实用新型]一种补光装置-CN202122453501.3有效
发明人：何鑫;雷李华 -专利权人：东莞市磐鑫自动化科技有限公司
申请日： 2021-10-12 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G03B15/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种补光装置，包括光源和固定壳体，所述光源包括线路板和阵列设置于所述线路板上若干灯珠；所述固定壳体设置有用于卡紧所述线路板的固定卡槽组，所述线路板可拆卸插入所述固定卡槽组中。本实用新型的补光装置，能实现快速组装线路板或者快速拆卸线路板的目的。
一种装置

[实用新型]一种视觉检测设备-CN202122455620.2有效
发明人：何鑫;雷李华 -专利权人：东莞市磐鑫自动化科技有限公司
申请日： 2021-10-12 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种视觉检测设备，包括第一箱体和安装在第一箱体上的第二箱体；第二箱体包括第一顶板，顶板上设置有通孔，通孔中安装有用于承载待检测产品的透光板；第二箱体内安装有第一检测光源和分光片，分光片倾斜地安装于第二箱体内，以使第一检测光源发出的光线能射向透光板；第一箱体包括第二顶板，第二顶板开设有用于连通第二箱体的出光孔，出光孔正对透光板；第一箱体内设置有环绕出光孔的第二检测光源。本实施例中的视觉检测设备，能使检测相机能更好地识别产品表面上的细小划痕，提升检测的精准度。
一种视觉检测设备

[实用新型]一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置-CN202222097838.X有效
发明人： 雷李华;曹程明;沈瑶琼;管钰晴;邹文哲;傅云霞 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型为一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置，属于纳米薄膜厚度的光学测量领域。本实用新型装置包括激光光源、滤光轮、光隔离器、反射镜组、起偏调制模块、样品台、检测调制模块和信号采集处理模块；所述激光光源发出激光光束，激光光束依次经所述滤光轮、光隔离器和反射镜组后以入射角θ输出进入起偏调制模块，形成调制偏振光入射到样品台上的待测样品后反射进入检偏调制模块进行偏振态调制，最后进入信号采集处理模块被所述硅探测器接收；所述信号采集单元将所述硅探测器接收到的光强信号转换为数字信号，并进行数据处理。
一种基于激光系统薄膜厚度测量装置

[发明专利]一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置及测量方法-CN202210957257.0在审
发明人： 雷李华;曹程明;沈瑶琼;管钰晴;邹文哲;傅云霞 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2022-08-10 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明为一种基于激光椭偏系统的薄膜厚度测量装置及测量方法，属于纳米薄膜厚度的光学测量领域。本发明装置依次为激光光源、滤光轮、光隔离器、反射镜组、起偏调制模块、样品台、检测调制模块和信号采集处理模块；所述激光光源发出激光光束，激光光束依次经所述滤光轮、光隔离器和反射镜组后以入射角θ输出进入起偏调制模块，形成调制偏振光入射到样品台上的待测样品后反射进入检偏调制模块进行偏振态调制，最后进入信号采集处理模块被所述硅探测器接收；所述信号采集单元将所述硅探测器接收到的光强信号转换为数字信号，并进行数据处理。
一种基于激光系统薄膜厚度测量装置测量方法

[实用新型]一种视觉光源结构-CN202220626645.6有效
发明人：何鑫;雷李华 -专利权人：东莞市磐鑫自动化科技有限公司
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G03B15/03 文献下载
摘要：本实用新型涉及自动化设备视觉照明领域，公开了一种视觉光源结构，包括固定壳和第一补光结构；第一补光结构包括第一PCB板、第一漫射板和若干个第一固定件；第一固定件包括与固定壳固定连接的第一安装板和与第一安装板固定连接的第一倾斜板，第一安装板和第一倾斜板之间具有预设夹角，且若干个第一固定件圆周阵列设置；每一第一倾斜板上均对应安装有一片第一PCB板，且第一PCB板与对应的第一倾斜板相互平行，第一PCB板靠近第一漫射板的一侧设置有多个第一补光灯；每一第一PCB板的顶部一侧还对应安装有一片第一漫射板，第一漫射板与对应的第一PCB板相互平行。本实用新型的视觉光源结构能有效提升光照强度。
一种视觉光源结构

[实用新型]一种视觉检测光源-CN202220515536.7有效
发明人：何鑫;雷李华 -专利权人：东莞市磐鑫自动化科技有限公司
申请日： 2022-03-09 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型涉及自动化设备视觉照明领域，公开了一种视觉检测光源，包括固定外筒、平行所述固定外筒安装于所述固定外筒的内孔中的第一分光筒和安装在所述固定外筒的内孔中的碗状漫射板；所述第一分光筒用于将所述固定外筒内空间分为第一安装空间和第二安装空间，所述第一安装空间内安装有至少三颗第一灯珠，所述第二安装空间内安装有至少三颗第二灯珠，且所述第一灯珠的灯光颜色不同于所述第二灯珠的灯光颜色；所述第一安装空间的出光端和第二安装空间的出光端均被所述碗状漫射板密封，且碗状漫射板的凹面朝向工件。该视觉检测光源能有效满足实际检测需要，且能有效提升检测精度。
一种视觉检测光源

[发明专利]一种空气污染物滤膜称量设备及称量方法-CN202010662042.7有效
发明人：苏祎;雷李华;余培英;孙佳媛;程丽苑;刘佳鑫;许祎凡 -专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日： 2020-07-10 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种空气污染物滤膜称量设备及称量方法，所述空气污染物滤膜称量设备包括，滤膜称量组件，用于放置滤膜；质量比较仪，用于称量所述滤膜称量组件的重量；工作台，所述滤膜称量组件适于放置于所述工作台；装置主体，所述质量比较仪和所述工作台分别安装于所述装置主体；传送机构，所述传送机构安装于所述装置主体，用于将所述滤膜称量组件在所述工作台和所述质量比较仪之间移动。其能够在空气污染物滤膜的称量过程中防止空气污染物滤膜二次污染，提高空气污染物滤膜的测量精度。
一种空气污染物滤膜称量设备方法

[实用新型]一种复合型微纳米高深宽比沟槽标准样板-CN202120786997.3有效
发明人： 雷李华;傅云霞;管钰晴;曾燕华;杜黎明;唐冬梅;邹文哲 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2021-04-17 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本实用新型为一种复合型微纳米高深宽比沟槽标准样板，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的几何台阶结构测量工作区域、一维栅格结构测量工作区域及深槽结构测量工作区域，所述的几何台阶结构测量工作区域设有直角三角形循迹标识和台阶结构循迹标识及台阶，一维栅格结构测量工作区域设有一维栅格标准样板及指向一维栅格标准样板的一维栅格结构循迹标识，深槽结构测量工作区域设有具有深度、宽度尺寸的沟槽，在沟槽两侧对称设有定位角标识、沟槽定位结构、切片定位结构和正交扫描标定结构，所述台阶的高度与一维栅格标准样板的结构高度及沟槽的深度尺寸相同，且台阶的宽度与一维栅格标准样板中每个光栅的结构宽度及沟槽的宽度尺寸相同。
一种复合型纳米高深沟槽标准样板

[实用新型]一种可循迹多尺寸纳米膜厚标准样板-CN202120786964.9有效
发明人：管钰晴;傅云霞;雷李华;曾燕华;杜黎明;唐冬梅;邹文哲 -专利权人：上海市计量测试技术研究院;中国计量大学
申请日： 2021-04-17 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型为一种可循迹多尺寸纳米膜厚标准样板，其特征在于：所述的纳米膜厚标准样板包括设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域设有小光斑光源测量工作中心圆，所述的第二测量工作区域设有大光斑光源测量工作中心圆，所述的小光斑光源测量工作中心圆外周设有若干指向小光斑光源测量工作中心圆的小光斑光源工作区域循迹标识，所述大光斑光源测量工作中心圆外周设有若干指向大光斑光源测量工作中心圆的大光斑光源工作区域循迹标识。本实用新型能够满足测量中不同光斑大小的测量需求，完善了半导体行业不同类型仪器的量值统一方式，使测量结构能被快速、准确地定位和测量，大大提高了测量效率。
一种可循迹多尺寸纳米标准样板

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