专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]Bax-CN202310882307.8在审
  • 顾宗铨;于浦;殷立峰;徐鸿涛;许凯;陆冰彬 - 复旦大学
  • 2023-07-18 - 2023-10-27 - C23C14/06
  • 本发明属于射频微波技术领域,具体为一种BaxSr1‑xTiO3薄膜的制备办法。本发明方法包括:精确标定出各BaxSr1‑xTiO3成分的薄膜和衬底组合的微波介电谐振的工作温区;通过相场模型描绘铁电极化P在畴壁区域的实际分布,并结合分子动力学方法计算畴壁区域的原子运动轨迹,寻找局域性的声子散射模式,厘清ωr反转的微观机制;应用上述理论,以BaTiO3和SrTiO3的靶材,设计实现梯度成分的BaxSr1‑xTiO3薄膜的制备。本发明设计的BaxSr1‑xTiO3薄膜通过平均各单一成分在薄膜整体介电响应中的贡献,提升了薄膜的微波介电性能对温度的响应,为解决器件在实际应用中的发热问题提供解决方案。
  • babasesub
  • [实用新型]一种柔性探针组件-CN202221423355.8有效
  • 王乾龙;俞方能;雷旺;罗鑫依;陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2022-06-07 - 2022-11-29 - G01R1/067
  • 本实用新型属于半导体超低温检测技术领域,公开了一种柔性探针组件,包括具有导热性的安装基板,还包括探针、柔性连接件和电信接头;所述探针连接在柔性连接件上,并通过柔性连接件与所述安装基板连接;所述柔性连接件通过导线与所述电信接头连接,电信接头用于将电信参数引出所述柔性探针组件外;所述柔性连接件具有弹性结构,以通过弹性结构抵消柔性连接件由于热胀冷缩带来的应力。本实用新型通过以具有弹性结构的柔性连接件作为探头臂,在自动连续变温实验中,可抵消热胀冷缩带来的应力,实现自动补偿热铆钉探头的探头臂的温度膨胀,显著提高了测量的稳定性,并且柔性探针允许连续的变温实验,减少了反复落针带来的连接问题。
  • 一种柔性探针组件
  • [实用新型]一种具备南北向射频针臂的芯片特性检具-CN202121269053.5有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-06-07 - 2022-02-18 - G01R31/28
  • 本申请公开了一种具备南北向射频针臂的芯片电学特性检具,包括插板底座、正面检测探针机构、龙门支架和背面检测探针机构,为模块化的机构,可以进行组合式装配在基座上,装配完毕即可进行芯片电学特性测试和检测。其安装、使用灵活,设计工作简洁,节省成本,适用范围高,能适配各类芯片的检测使用。本技术还通过南北向射频针臂桥接一个辅助探针检测针,辅助探针检测针对芯片边沿的结构进行检测,不会干扰检测探针机构下方的夹具,方便放置辅助探针而进行芯片辅助检测。
  • 一种具备南北向射频芯片特性
  • [实用新型]一种用于高低温环境芯片光电特性检测的新型多功能检具-CN202121269107.8有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-06-07 - 2022-02-18 - G01R31/28
  • 本申请公开了一种用于高低温环境芯片光电特性检测的新型多功能检具,在底座上设有带观察窗的低温腔,还设置有多维可调节显微机构,多维可调节显微机构可以实现不同空间位置的显微镜镜头观察角度,可以透过观察窗对低温腔内部的芯片进行观察和便于探针扎针测试、检测,进一步提高芯片低温检测检具的功能,使其配合性地提高低温腔在检测时的芯片检测效果;本实用新型还配置了有毒气体检测机构,可以在芯片低温检具做检测时往腔体内通入不同气氛检测在此环境下芯片样品性能时有毒气体进行检测,及时提醒检测人员预防。还具有光学特性检测装置,可以对高低温腔内的有源光学元件进行光学特性检测,实现多功能检测应用。
  • 一种用于低温环境芯片光电特性检测新型多功能
  • [实用新型]一种半导体器件双面检测探针安装架-CN202120720166.6有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-12-21 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及半导体测试技术领域,公开了一种半导体器件双面检测探针安装架,包括底座、设置在底座上的支撑座,设置在支撑座上的上层安装板和下层安装板,所述上层安装板包括具有一敞口的圆形空间和分别位于圆形空间两侧的安装延伸板,所述上层安装板上设有上层探针座,所述下层安装板包括固定安装在支撑座上的左侧安装板和右侧安装板,所述左侧安装板和右侧安装板分别位于对应的安装延伸板的下方,所述左侧安装板和/或右侧安装板上设有下层探针座;本实用新型提供的一种半导体器件双面检测探针安装架,解决了现有双面探针台用的安装架的结构较为复杂,成本较高的问题。
  • 一种半导体器件双面检测探针安装
  • [实用新型]一种探针座-CN202120720243.8有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-12-21 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及半导体测试技术领域,公开了一种探针座,包括基座,设置在基座上的X向移动机构、设置在X向移动机构上的Y向移动机构和设置在Y向移动机构上的Z向移动机构,所述X向移动机构包括设于基座上的底座、设于底座上的中座、与底座转动连接的第一丝杆和与第一丝杆螺纹连接的第一螺母,所述Y向移动机构包括设于中座上的上座、与中座转动连接的第二丝杆和与第二丝杆螺纹连接的第二螺母,所述Z向移动机构包括设于上座一侧的侧座、与上座转动连接的第三丝杆和与第三丝杆螺纹连接的第三螺母;本实用新型提供的一种探针座,解决了现有探针座调试精度不高,安装结构设计复杂的问题。
  • 一种探针
  • [实用新型]一种探针台真空腔装置-CN202120720298.9有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-12-21 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及半导体测试技术领域,公开了一种探针台真空腔装置,包括真空腔体以及与真空腔体连通的抽真空管道,真空腔体包括同轴嵌套设置的外腔体和内腔体,外腔体和内腔体之间为保温腔,外腔体与内腔体一一对应设有外探测孔和内探测孔,相对应的外探测孔和内探测孔构成探测孔,内腔体内设有载物台,载物台的高度与探测孔的高度相适应,载物台上设有加热模块和温度传感器,载物台内设有冷源循环通道,冷源循环通道的两端分别通过管道连接至真空腔体的外部;本实用新型提供的一种探针台真空腔装置,解决了现有探针台的真空腔存在升温速度慢,对半导体器件的测试效率低的问题。
  • 一种探针空腔装置
  • [实用新型]一种芯片双面光电特性综合检测系统和装置-CN202121270043.3有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-06-07 - 2021-11-16 - G01D21/02
  • 本申请公开了一种芯片双面光电特性综合检测系统和装置,包括气浮基座、样品可调夹具、正面电学检测探针机构、背面电学检测探针机构、正面观察机构和背面观察机构等;本技术的气浮基座、样品可调夹具、正面检测探针机构和背面检测探针机构为模块化的机构,可以进行组合式装配在基座上,装配完毕即可进行芯片电学特性测试和检测;还可加装光学特性检测装置进行光学特性检测,功能综合。其安装、使用灵活,客户可以选择性使用和装配。不需求每次不同的需要就需要额外定制设计对应的检测机构,设计工作简洁,节省成本。本系统,因为各个机构可以选用而组合使用,因此检具适用范围高,能适配各类芯片的检测使用。
  • 一种芯片双面光电特性综合检测系统装置
  • [实用新型]一种真空探针台-CN202120720122.3有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-11-02 - G01R31/26
  • 本实用新型涉及半导体测试技术领域,公开了一种真空探针台,包括安装台和设置在安装台上的底板,所述安装台上设有有毒气体检测装置,所述底板上设有真空腔体、探针座和显微镜安装调节架,所述探针座围绕真空腔体周向设有多个,所述显微镜安装调节架上设有显微镜;本实用新型提供的一种真空探针台,解决了现有探针台的真空腔存在升温速度慢,对半导体器件的测试效率低以及无法对检测环境的有毒气体进行检测的问题。
  • 一种真空探针
  • [实用新型]一种半导体器件双面检测用定位调节装置-CN202120721775.3有效
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-11-02 - H01L21/68
  • 本实用新型涉及半导体测试技术领域,公开了一种半导体器件双面检测用定位调节装置,包括可调底座、设置在可调底座上的旋转台以及设置在旋转台上的丝杆夹持机构,所述丝杆夹持机构包括安装板、丝杆、安装台、滑轨和移动支撑座,所述安装板固定在旋转台上,所述安装台有两个且对称设置在安装板长度方向的两端,所述丝杆的两端分别与安装台转动连接,所述丝杆上设有螺纹方向相反的螺纹段,所述滑轨有两条且二者沿着安装板的长度方向对称设置;本实用新型提供的一种半导体器件双面检测用定位调节装置,解决了现有双面探针台用的样品定位夹具其操作麻烦以及对样品位置调节的灵活性还有待提升的问题。
  • 一种半导体器件双面检测定位调节装置
  • [发明专利]一种芯片双面光电特性综合检测系统和装置-CN202110633880.6在审
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-06-07 - 2021-08-10 - G01D21/02
  • 本申请公开了一种芯片双面光电特性综合检测系统和装置,包括气浮基座、样品可调夹具、正面电学检测探针机构、背面电学检测探针机构、正面观察机构和背面观察机构等;本技术的气浮基座、样品可调夹具、正面检测探针机构和背面检测探针机构为模块化的机构,可以进行组合式装配在基座上,装配完毕即可进行芯片电学特性测试和检测;还可加装光学特性检测装置进行光学特性检测,功能综合。其安装、使用灵活,客户可以选择性使用和装配。不需求每次不同的需要就需要额外定制设计对应的检测机构,设计工作简洁,节省成本。本系统,因为各个机构可以选用而组合使用,因此检具适用范围高,能适配各类芯片的检测使用。
  • 一种芯片双面光电特性综合检测系统装置
  • [发明专利]一种真空探针台-CN202110378526.3在审
  • 陆冰彬 - 英铂科学仪器(上海)有限公司
  • 2021-04-08 - 2021-06-15 - G01R31/26
  • 本发明涉及半导体测试技术领域,公开了一种真空探针台,包括安装台和设置在安装台上的底板,所述安装台上设有有毒气体检测装置,所述底板上设有真空腔体、探针座和显微镜安装调节架,所述探针座围绕真空腔体周向设有多个,所述显微镜安装调节架上设有显微镜;本发明提供的一种真空探针台,解决了现有探针台的真空腔存在升温速度慢,对半导体器件的测试效率低以及无法对检测环境的有毒气体进行检测的问题。
  • 一种真空探针

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