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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷知识库-CN200810087403.9无效
  • 阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 - 应用材料有限公司
  • 2001-10-02 - 2008-08-20 - H01L21/66
  • 创建含有半导体晶片上晶片缺陷的研究案例信息的缺陷知识库的方法和相关装置。该方法包括创建一个数据库条目并且存储数据库条目以备以后访问，其中上述数据库条目含有一个指定缺陷的一个研究案例，上述研究案例包含缺陷信息而上述缺陷信息包括一或多个缺陷图像。数据库条目被存储在一个服务器上并且可以被多个客户端访问。
  • 缺陷知识库
  • [发明专利]缺陷源识别器-CN01802992.2无效
  • 阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 - 应用材料有限公司
  • 2001-10-02 - 2003-02-19 - G01N21/95
  • 分析半导体晶片上缺陷的方法及相关装置。该方法包括识别半导体晶片上的缺陷。在缺陷源识别器客户机内建立缺陷检测信息。通过网络将缺陷检测信息传送到缺陷源识别器服务器。响应缺陷检测信息，在缺陷源识别器服务器处导出缺陷源信息。该缺陷源信息从缺陷源识别器服务器传送到缺陷源识别器客户机。在缺陷源识别器客户机处利用缺陷源信息。在一个方面，对缺陷解决方案信息的利用涉及响应该缺陷解决方案信息，在缺陷源识别器客户机处显示对该缺陷的缺陷解决方案。在另一个方面，对缺陷解决方案信息的利用涉及改变晶片处理系统的操作。
  • 缺陷识别
  • [发明专利]缺陷知识库-CN01802982.5无效
  • 阿莫斯·多尔;马亚·拉德辛斯基 - 应用材料有限公司
  • 2001-10-02 - 2003-01-22 - G01N21/95
  • 创建含有半导体晶片上晶片缺陷的研究案例信息的缺陷知识库的方法和相关装置。该方法包括创建一个数据库条目并且存储数据库条目以备以后访问，其中上述数据库条目含有一个指定缺陷的一个研究案例，上述研究案例包含缺陷信息而上述缺陷信息包括一或多个缺陷图像。数据库条目被存储在一个服务器上并且可以被多个客户端访问。
  • 缺陷知识库
  •  1 
  • 共 4 条
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