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[发明专利]一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法-CN202011474137.2有效
发明人：江荣贵;董森华;郭超;陈彬;都长鑫 -专利权人：南京华大九天科技有限公司
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：一种基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法，包括以下步骤：设置经验参数，筛选时序违例的时序路径；分别统计时序违例和非违例的时序路径包含的单元并进行关联；制定瓶颈单元的筛选策略，筛选瓶颈特征单元运算得到瓶颈单元数据集并区分主次；根据时序路径与单元的关联关系检查时序违例的时序路径是否完全覆盖，将未覆盖到的时序违例时序路径构建新的数据集来执行迭代；通过迭代得到最终瓶颈单元数据集进行时序修复。本发明的基于STA与SPICE模型仿真筛选瓶颈单元的方法，能够综合考虑Path与Cell的逻辑结构与物理特性，快速筛选出瓶颈Cell加快时序违例Path的时序修复工作以及整个IC设计的时序验收工程。
一种基于 sta spice 模型仿真筛选瓶颈单元方法

[发明专利]一种考虑标准单元老化效应的仿真分析方法-CN202211387039.4在审
发明人：刘毅;陈彬;雍晓;都长鑫 -专利权人：成都华大九天科技有限公司
申请日： 2022-11-07 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G06F30/3312 文献下载
摘要：本发明提供了一种考虑标准单元老化效应的仿真分析方法，包括以下步骤：1）读入一种工艺条件下的标准单元库；2）根据仿真需要，选取所需类型的标准单元Cell，按照FON电路结构，搭建测试电路；3）采用FON电路结构作为测试电路，根据网表实例化信息以及连接关系，生成对应的SPICE仿真网表；4）调整更新单元的晶体管模型参数，确定老化时间后的单元时序表现，得到时序仿真延迟值；5）确定仿真单元的静态时序库信息；6）计算仿真单元的老化时序退化率，其中，老化时序退化率=（时序仿真延迟值/静态时序库信息）*100%。本发明模拟老化时间之后的单元时序行为，获得单元的老化时序退化率，优化设计策略。
一种考虑标准单元老化效应仿真分析方法