“贺书芳”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果12个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质-CN202310131172.1在审
发明人：冯国进;王景辉;贺书芳;甘海勇 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明涉及辐射测温技术领域，提供一种辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比；根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确定第二漫反射比；根据所述第一漫反射比和所述第二漫反射比，确定第三漫反射比；根据所述第三漫反射比和设定参数确定被测物体的温度。本发明通过测量任意观测角的第三漫反射比，再基于第三漫反射比进行辐射测温，如此，提高了辐射测温的准确性。
辐射测温方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种人体体温测量装置和方法-CN202211504470.2在审
发明人：冯国进;甘海勇;王景辉;贺书芳;赫英威 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01J5/52 文献下载
摘要：本申请涉及辐射测温技术领域，提供一种人体体温测量装置和方法。该装置包括：辐射测温设备，用于检测测温对象的目标辐射参数；与辐射参考源连接的恒温加热器，用于对辐射参考源进行加热；分别与辐射测温设备和辐射参考源连接的数据采集模块，用于采集测温对象的目标辐射参数，以及辐射参考源的参考温度和参考辐射参数；数据采集模块连接的体温检测模块，用于根据目标辐射参数、参考温度和参考辐射参数，确定测温对象的体温。通过采用与人体皮肤的辐射特性相同的辐射参考源作为体温测量的参考，可以准确确定测温对象的辐射特性，从而得到测温对象的精确体温，相比于以黑体辐射源作为体温测量的参考，可以提高体温测量的准确性。
一种人体体温测量装置方法

[发明专利]基于融合标准样品的温度测量方法及装置-CN202211517802.0在审
发明人：冯国进;甘海勇;王景辉;贺书芳;赫英威 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本申请涉及测温领域，提供一种基于融合标准样品的温度测量方法及装置。所述方法包括：获取待测物品和标准样品的辐射相关参数；根据所述标准样品的辐射相关参数，得到环境大气透射比和环境辐射强度；根据所述待测物品的辐射相关参数、所述环境大气透射比和所述环境辐射强度，得到所述待测物品的温度。本申请实施例提供的基于融合标准样品的温度测量方法及装置可以利用环境辐射强度表征待测物品对环境辐射的反射，进而将待测物品自身的辐射和待测物品对环境辐射的反射相结合，以量化待测物品的温度，从而减小温度测量的误差。
基于融合标准样品温度测量方法装置

[发明专利]多参量融合标准器及制备方法-CN202211486405.1在审
发明人：冯国进;甘海勇;王景辉;贺书芳;赫英威 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明提供一种多参量融合标准器及制备方法，包括多个第一校准单元和一个第二校准单元：所述第一校准单元包括设定特性量值的第一涂料，用以校准特性线性度和特性量程；其中，每个所述第一校准单元对应的特性量值不同；所述第二校准单元包括设定形状和特性量值的第二涂料和第三涂料，所述第二涂料和所述第三涂料交替形成目标图案，用以校准面分布测量参数，其中，所述第二涂料的特性量值大于所述第三涂料；多个所述第一校准单元和所述第二校准单元呈阵列分布。本发明设置第一校准单元和第二校准单元，在同一空间位置中设置多种校准单元，能够实现同时和同位置的校准，不会引入系列误差。
参量融合标准制备方法

[实用新型]紫外光谱辐射通量测量装置-CN202122963587.4有效
发明人：王彦飞;代彩红;许超群;李玲;吴志峰;程秋桐;贺书芳;刘金元;谢一航 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本公开提供一种紫外光谱辐射通量测量装置，包括：紫外标准辐射源(1)，可转动设置于旋转台(2)上，紫外标准辐射源(1)分别以第一轴线或第二轴线为旋转轴，第一轴线与第二轴线正交；辐射通量测量仪(3)，设置于紫外标准辐射源(1)的紫外光路上，以测量紫外标准辐射源(1)的辐射通量；其中，辐射通量测量仪(3)包含第一光栅(301)和第二光栅(302)，第一光栅(301)与第二光栅(302)分别设置于不同的腔室，以依次对紫外光进行分光；第一轴线与辐射通量测量仪(3)的光接收面垂直。本公开的紫外光谱辐射通量测量装置实现了200nm‑450nm波长范围的紫外光谱辐射通量的精确测量。
紫外光谱辐射通量测量装置

[发明专利]紫外光谱辐射通量测量装置及方法-CN202111438576.2在审
发明人：王彦飞;代彩红;许超群;李玲;吴志峰;程秋桐;贺书芳;刘金元;谢一航 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本公开提供一种紫外光谱辐射通量测量装置及方法，装置包括：紫外标准辐射源(1)，可转动设置于旋转台(2)上，紫外标准辐射源(1)分别以第一轴线或第二轴线为旋转轴，第一轴线与第二轴线正交；辐射通量测量仪(3)，设置于紫外标准辐射源(1)的紫外光路上，以测量紫外标准辐射源(1)的辐射通量；其中，辐射通量测量仪(3)包含第一光栅(301)和第二光栅(302)，第一光栅(301)与第二光栅(302)分别设置于不同的腔室，以依次对紫外光进行分光；第一轴线与辐射通量测量仪(3)的光接收面垂直。本公开的紫外光谱辐射通量测量装置及方法实现了200nm‑450nm波长范围的紫外光谱辐射通量的精确测量。
紫外光谱辐射通量测量装置方法

[发明专利]一种温度检测设备的校准方法-CN202010663830.8有效
发明人：谢一航;代彩红;王彦飞;吴志峰;李玲;贺书芳 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-07-10 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：本申请涉及设备校准技术领域，尤其涉及一种温度检测设备的校准方法及装置。本申请通过获取在校准实验中通过温度检测设备对物质进行检测得到的实验熔化温度；获取所述物质对应的标准熔化温度；根据所述标准熔化温度以及所述实验熔化温度，对所述温度检测设备进行校准，得到校准后的温度检测设备；其中，所述校准后的温度检测设备用于在实际实验中对物质进行温度检测，通过对物质的标准熔化温度与实验熔化温度进行对应，达到对温度检测设备进行校准的目的。
一种温度检测设备校准方法

[发明专利]一种非等温黑体辐射源的参考温度的优化方法-CN202010919792.8有效
发明人： 贺书芳;代彩红;王彦飞;刘金元;谢一航;冯国进;王景辉 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01J5/52 文献下载
摘要：本发明公开了一种非等温黑体辐射源的参考温度的优化方法，包括获得黑体辐射源腔体内壁的实际温度分布函数；建立黑体辐射源腔体模型，将黑体辐射源腔体内壁分割为多个区域，得到分割后的黑体辐射源腔体模型；在光学仿真软件中导入分割后的黑体辐射源腔体模型，在黑体辐射源腔体的腔口外放置光源，使其能够向黑体辐射源腔体内部辐射能量，并进行光学仿真；统计黑体辐射源腔体内壁上的每个区域单位面积内的入射辐射能量，将所有区域单位面积内的入射辐射能量进行归一化，并将各自的归一化系数进行拟合，作为其加权函数；将实际温度分布函数和加权函数进行积分得到优化的非等温黑体辐射源参考温度。本方法实现了定量化的黑体辐射源参考温度的设定。
一种等温黑体辐射源参考温度优化方法

[发明专利]一种辐射亮度计-CN202011135990.1在审
发明人：刘金元;王彦飞;贺书芳;李玲;吴志峰;刘文德;代彩红;冯国进 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-10-22 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种辐射亮度计，包括：亮度计成像光学系统，包括成像物镜、第一反射镜和第二反射镜，成像物镜将来自被测物体的光信号汇聚成像于第一反射镜处；第二反射镜将来自第一反射镜的光信号反射到电子取景器；电子取景器包括CCD器件，CCD器件将来自第二反射镜的光信号转换成电信号；亮度计光电探测器用于探测汇聚成像于所述第一反射镜处的光信号，并将光信号转换为电信号；电子处理系统，其用于接收来自电子取景器的电信号和来自亮度计光电探测器的电信号，并对电信号进行处理，将处理后的电信号输出到显示屏显示；物镜成像调焦机构用于接收电子处理系统的控制信号，对亮度计成像光学系统进行调节，以实现自动调节焦距本发明的辐射亮度计的采用电子取景器，配合电子调焦系统可以实现亮度计的自动对焦功能，从而能够实现亮度计的遥控测量和操作。
一种辐射亮度计

[发明专利]一种辐射测温仪-CN202011134976.X在审
发明人：刘金元;王彦飞;贺书芳;李玲;吴志峰;刘文德;代彩红;冯国进 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-10-22 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种辐射测温仪，包括：红外辐射光学装置、红外辐射探测器、电子装置、显示装置；红外辐射光学装置包括成像物镜，成像物镜接收来自被测物体的光信号并将光信号聚焦于所述红外辐射探测器；红外辐射探测器将光信号转换为电信号，并将电信号发送到所述电子装置；电子装置处理所述电信号，获得测定温度；显示装置用于显示所述测定温度；辐射测温仪还包括环境温度探测器，环境温度探测器用于测量环境温度，并将测量得到的环境温度值输入电子装置，电子装置根据所述测量得到的环境温度值修正最终的温度测量值。本发明的技术方案采用了环境温度来修正辐射测温仪的最终测量温度值，使得该温度测温仪在各种环境温度下的测量误差减小，温度测量值更为准确。
一种辐射测温

[发明专利]一种基于LED模组的随机矩阵混灯方法及其系统装置-CN201010565601.9无效
发明人： 贺书芳;艾伦·陈达;卡特琳·娜叶莉 -专利权人：巴可伟视（北京）电子有限公司
申请日： 2010-11-30 - 公布日： 2011-07-20 - 主分类号： F21V19/00 文献下载
摘要：一种基于LED模组的随机矩阵混灯方法及系统装置，其包括一AI插件机，根据LED模组像素在AI插件机控制端PC中构建生成随机矩阵的软件模组、AI插件机控制端软件模组及AI插件机功能模组；实时启动后，先将LED灯的批次数和数量生成随机矩阵；AI插件机控制端软件模组再调用该随机矩阵，建进料站号和LED模组像素的对应关系；AI插件机功能模组建LED批次和进料站号的对应关系；AI插件机控制端软件模组控制AI插件机从相应的进料站取出各LED灯，插在模块对应位置实现混灯。由于采用计算机编程生成随机矩阵，减小了LED模块出现规律性图案的风险；且每个LED模块都采用相同的随机矩阵，固定了LED批次和其在LED模块上的像素位置，实现了LED灯的可追踪性，有效控制了生产风险。
一种基于 led 模组随机矩阵方法及其系统装置

[发明专利]空间调制干涉型计算层析成像光谱仪-CN200510130308.9无效
发明人：廖宁放;林宇;赵达尊;吴文敏;方俊永;林军;贺书芳 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2005-12-09 - 公布日： 2006-05-03 - 主分类号： G01J3/26 文献下载
摘要：一种空间调制干涉型计算层析成像光谱仪。属于遥感技术领域中成像光谱仪的设计技术范畴。其主要组成结构为前置望远系统、旋转投影器、干涉光学系统，二维焦平面探测器和数据采集处理系统。干涉光学系统采用大口径投影式空间调制干涉结构，具体形式为产生等厚干涉条纹的迈克尔逊式干涉器，并用柱面(透)镜进行投影扩展。入射光经准直镜作用后成为准直光束；旋转投影器对准直光图像以一定步长进行旋转，获得不同角度的图像；干涉光学系统使从旋转投影器出射的准直光束进行干涉、投影及聚焦，在聚焦镜的像方焦平面上可以同时得到投影图像和干涉条纹；数据采集处理系统对输出的数据进行由空域到频域的变换，获得图像的光谱分布，同时经计算层析投影重建后得到光谱图案数据立方体。本发明具有高灵敏度、高光谱分辨率、高空间分辨率的特点。
空间调制干涉计算层析成像光谱仪

1
共 12 条